2.9. Scanning electron microscopy (

2.9. Scanning electron microscopy (SEM)
The surface and cross-section microstructures of dried raw rice
noodles were observed using a Quanta-200 SEM analyzer (FEI
Company, Netherlands) according to Li, Easa, Liong, Tan, and Foo
(2013) at the operating voltage of 1 kV and 50 magnification.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.9. สแกนอิเล็กตรอน (SEM)โครง surface และภาคตัดขวางของข้าวดิบแห้งข้อสังเกตเส้นใช้วิเคราะห์ SEM ควอนตั้ม-200 (เฟยบริษัท เนเธอร์แลนด์) ตาม Li, Easa, Liong ตาล และฟู(2013) ที่แรงดันไฟฟ้าปฏิบัติงาน 1 kV และขยาย 50

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.9 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
พื้นผิวและข้ามส่วนจุลภาคข้าวดิบแห้ง
เส้นก๋วยเตี๋ยวที่ถูกตั้งข้อสังเกตโดยใช้การวิเคราะห์ควอนตั้ม-200 SEM (FEI
บริษัท เนเธอร์แลนด์) ตาม Li, EASA, เหลียงตันและฟู
(2013) ที่ แรงดันไฟฟ้าปฏิบัติการที่ 1 กิโลโวลต์และ 50 การขยาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.9 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )พื้นผิวและลักษณะโครงสร้างจุลภาคของวัตถุดิบข้าวแห้งก๋วยเตี๋ยวที่พบใช้ quanta-200 SEM วิเคราะห์ ( เฟยบริษัท เนเธอร์แลนด์ ) ตาม Li , ทั้งสิ้น , Liong ตัน และ ฟู( 2013 ) ที่แรงดันไฟฟ้าปฏิบัติการ 1 กิโล 50 ขยาย .