Photoluminescence (PL) spectroscopy

Photoluminescence (PL) spectroscopy is a contactless, nondestructive method to probe the electronic structure of materials. Our capabilities include: various excitation wavelengths that allow for varying levels of volume excitation; a detection range extending from 0.4 to 2.7 µm; sample temperatures of 4 to 300 K; and mapping capabilities with 1- to 2-µm spatial resolution on the Fourier-transform-based system. The intensity and spectral content of the emitted photoluminescence is a direct measure of various important material properties, including:

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มิก Photoluminescence (PL) เป็นวิธีไม่ทำลาย สัมผัสหยั่งโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์ของวัสดุ ความสามารถของเรารวมถึง: ความยาวคลื่นกระตุ้นต่าง ๆ ที่อนุญาตสำหรับระดับที่แตกต่างของปริมาณไฟฟ้า ระยะการตรวจจับที่ขยายจาก 0.4 ไป 2.7 µm อุณหภูมิตัวอย่างของการ 300 K 4 และความสามารถในการแม็ปกับ 1 กับ 2 µm ความละเอียดเชิงพื้นที่บนระบบโดยใช้การแปลงฟูริเยร์ ความรุนแรงและเนื้อหาที่สเปกตรัมของ emitted photoluminescence คือ การวัดโดยตรงสำคัญวัสดุคุณสมบัติต่าง ๆ รวมทั้ง:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เรืองแสง (PL) สเปกโทรสโกเป็นสัมผัสวิธีไม่ทำลายการสอบสวนโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์ของว​​ัสดุ ความสามารถของเรารวมถึง: ความยาวคลื่นกระตุ้นต่างๆที่อนุญาตให้มีระดับที่แตกต่างของการกระตุ้นปริมาณ; ช่วงการตรวจสอบขยาย 0.4-2.7 ไมครอน; อุณหภูมิตัวอย่าง 4-300 K; และความสามารถในการทำแผนที่ที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่ 1- 2 ไมครอนในระบบฟูริเยร์-เปลี่ยนตาม ความรุนแรงและสเปกตรัมเนื้อหาของ photoluminescence ปล่อยออกมาเป็นตัวชี้วัดโดยตรงของคุณสมบัติของวัสดุที่สำคัญต่างๆรวมถึง:

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โฟโตลูมิเนสเซนซ์ ( PL ) spectroscopy คือ สมาร์ต วิธีการใหม่เพื่อสอบสวนอิเล็กทรอนิกส์โครงสร้างของวัสดุ ความสามารถของเรารวมถึง : ความยาวคลื่นกระตุ้นต่างๆที่ให้สำหรับระดับที่แตกต่างของปริมาณการกระตุ้น ; การตรวจสอบช่วงขยายจาก 0.4 ถึง 2.7 µ M ; ตัวอย่างที่อุณหภูมิ 4 ถึง 300 เคลวิน และแผนที่ใน 1 - 2 - µ M ความละเอียดเชิงพื้นที่ในการแปลงจากระบบ ความเข้มและเนื้อหาสเปกตรัมของแบบออกมาเป็นวัดสำคัญต่างๆ โดยคุณสมบัติของวัสดุ ได้แก่