The most common mode of detection i

The most common mode of detection is by secondary
electrons emitted by atoms excited by the electron beam. The
number of secondary electrons is a function of the angle
between the surface and the beam.
On a flat surface, the plume of secondary electrons is
mostly contained by the sample, but on a tilted surface, the
plume is partially exposed and more electrons are emitted. By
scanning the sample and detecting the secondary electrons, an
image displaying the tilt of the surface is created.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โหมดที่พบบ่อยที่สุดของการตรวจสอบคือการรองอิเล็กตรอนปล่อยออกมาจากอะตอมตื่นเต้นโดยลำแสงอิเล็กตรอน จำนวนอิเล็กตรอนที่สองคือฟังก์ชั่นของมุมที่ระหว่างพื้นผิวและคาน. บนพื้นผิวที่เรียบขนนกของอิเล็กตรอนที่สองจะมีส่วนใหญ่เป็นตัวอย่างแต่บนพื้นผิวเอียงที่ขนนกสัมผัสบางส่วนและอิเล็กตรอนมากขึ้นที่ปล่อยออกมา โดยการสแกนตัวอย่างและการตรวจสอบอิเล็กตรอนรองเป็นภาพการแสดงความลาดเอียงของพื้นผิวจะถูกสร้างขึ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โหมดที่พบบ่อยที่สุดของการตรวจสอบโดยมัธยม
อิเล็กตรอนออกมาจากอะตอมตื่นเต้นโดยลำแสงอิเล็กตรอน .
จำนวนอิเล็กตรอนทุติยภูมิที่เป็นฟังก์ชันของมุมระหว่างผิวหน้าและคาน
.
บนพื้นผิวเรียบ , ขนนกของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ
ส่วนใหญ่ที่มีอยู่ โดยตัวอย่าง แต่เมื่อเอียงพื้นผิว
ขนนกบางส่วนเปิดเผยและอิเล็กตรอนจะปล่อยออกมา โดย
สแกนตัวอย่าง และตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิ ,
ภาพแสดงการเอียงของพื้นผิวที่สร้างขึ้น