PV module’s current and voltage cha

PV module’s current and voltage changes resulting in shadowing of the leaf was measured using current and voltage sensors, and these signals were provided for the microcontroller inputs through signal conditioning circuits. The measurement of a sample leaf, which was placed in between the PV module and a diffusing glass, using the developed area meter is shown in Figure 8. The shape of the leaf which resembles to one of the tested areas is selected by the switches. According to the obtained equations, the microcontroller programcalculated the leaf area and this leaf area was displayed on an OLED as shown in Figure 9. The leaves tested by the area meter are shown in Figure 10.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โมดู PV ของกระแสและแรงดันเปลี่ยนแปลงในการแรเงาของใบไม้ถูกวัดโดยใช้เซนเซอร์แรงดันไฟฟ้าและกระแส และสัญญาณเหล่านี้ได้สำหรับอินพุตไมโครคอนโทรลเลอร์ผ่านวงจรปรับสัญญาณ วัดตัวอย่างใบไม้ ซึ่งถูกวางไว้ระหว่างโมดู PV และแก้ว diffusing ใช้มิเตอร์ตั้งพัฒนา จะแสดงในรูปที่ 8 เลือกรูปทรงของใบซึ่งมีลักษณะของพื้นที่ทดสอบ โดยสวิทช์ ตามสมการที่ได้รับ programcalculated ไมโครคอนโทรลเลอร์บริเวณใบและพื้นที่ใบนี้แสดงบน OLED มีดังแสดงในรูปที่ 9 ทดสอบ โดยการวัดพื้นที่ใบจะแสดงในรูปที่ 10

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เซลล์แสงอาทิตย์ในปัจจุบันและการเปลี่ยนแปลงแรงดันไฟฟ้าที่เกิดขึ้นในเงาของใบที่ถูกวัดโดยใช้เซ็นเซอร์ในปัจจุบันและแรงดันไฟฟ้าและสัญญาณเหล่านี้ถูกจัดเตรียมไว้สำหรับปัจจัยการผลิตไมโครคอนโทรลเลอร์ผ่านวงจรปรับอากาศสัญญาณ การวัดตัวอย่างใบซึ่งวางอยู่ในระหว่างเซลล์แสงอาทิตย์และแก้วกระจายโดยใช้เครื่องวัดการพัฒนาพื้นที่จะแสดงในรูปที่ 8 รูปทรงของใบที่มีลักษณะที่จะเป็นหนึ่งในพื้นที่ที่ผ่านการทดสอบจะถูกเลือกโดยสวิทช์ ตามที่ได้รับสมการที่ไมโครคอนโทรลเลอร์ programcalculated พื้นที่ใบและพื้นที่ใบนี้ถูกแสดงบน OLED ดังแสดงในรูปที่ 9 ใบทดสอบโดยเมตรพื้นที่จะแสดงในรูปที่ 10

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

แผงของแรงดันและกระแสการเปลี่ยนแปลงที่เกิดในเงาของใบใช้เซ็นเซอร์วัดแรงดันและกระแสและสัญญาณเหล่านี้ให้ไมโครคอนโทรลเลอร์ปัจจัยการผลิตผ่านวงจรปรับสัญญาณ การวัดตัวอย่างใบซึ่งวางอยู่ระหว่างแผงและกระจายแก้ว โดยใช้พื้นที่พัฒนาเครื่องวัดที่แสดงในรูปที่ 8รูปร่างของใบซึ่งมีลักษณะหนึ่งของการทดสอบพื้นที่คัดเลือกจากสวิตช์ ตามการวิเคราะห์สมการ ไมโครคอนโทรลเลอร์ programcalculated ใบและพื้นที่ใบพื้นที่นี้ถูกแสดงใน OLED ดังแสดงในรูปที่ 9 ใบทดสอบโดยพื้นที่วัดจะแสดงในรูปที่ 10