The productswere characterized by a

The products
were characterized by an X-ray diffractometer (XRD;
Siemens D500) operating at 20 kV 15mA and using Cu K
line in combination with the database of JCPDS; a scanningelectron microscope (SEM; JEOL JSM-6335F) operating at
15 kV; a transmission electron microscope (TEM; JEOL
JEM-2010) and selected area electron diffraction (SAED)
technique operating at 200 kV; an X-ray photoelectron spectrometer
(XPS; Kratos Analytical Axis UltraDLD) operating
at 15 kV 10mA in a chamber with 5  109 Torr; a Raman
spectrometer (Horiba Jobin Yvon T64000) using a 50mW
and 514.5 nm wavelength Ar green laser and a photoluminescence
(PL) spectrometer (PerkinElmer LS 50B)
using 300 nm excitation wavelength at room temperature.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผลิตภัณฑ์มีลักษณะ โดยการเอ็กซ์เรย์ diffractometer (XRDซีเมนส์ D500) ปฏิบัติที่ 20 kV 15mA และใช้ Cu Kบรรทัดร่วมกับฐานข้อมูลของ JCPDS กล้องจุลทรรศน์ scanningelectron (SEM JEOL JSM-6335F) ทำงานที่15 kV กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่ง (ยการ JEOLJEM-2010) และเลือกตั้งการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน (SAED)เทคนิคปฏิบัติการ 200 kV การเอ็กซ์เรย์ photoelectron สเปกโตรมิเตอร์(XPS ปฏิบัติงาน Kratos วิเคราะห์แกน UltraDLD)ที่ 15 kV 10mA ในหอที่มี 5 10 9 ธอร์ รามันสเปกโตรมิเตอร์ (Horiba Jobin Yvon T64000) ใช้เป็น 50mWและ 514.5 nm ความยาวคลื่นสีเขียว Ar เลเซอร์และการ photoluminescenceสเปกโตรมิเตอร์ (PL) (PerkinElmer LS 50B)ใช้ความยาวคลื่นในการกระตุ้น nm 300 ที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผลิตภัณฑ์ที่
โดดเด่นด้วยมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD;
Siemens D500) ปฏิบัติการที่ 20 กิโลโวลต์ 15mA และการใช้ Cu K?
เส้นร่วมกับฐานข้อมูลของ JCPDS; กล้องจุลทรรศน์ scanningelectron (SEM; JEOL JSM-6335F) ปฏิบัติการที่
15 กิโลโวลต์; ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM; JEOL
JEM-2010) และเลือกการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนพื้นที่ (SAED)
เทคนิคการปฏิบัติงานที่ 200 กิโลโวลต์; โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโตรมิเตอร์ X-ray
(XPS; Kratos วิเคราะห์แกน UltraDLD) การดำเนินงาน
อยู่ที่ 15 กิโลโวลต์ 10mA ในห้องที่มี 5? 10 9 Torr; รามัน
สเปกโตรมิเตอร์ (Horiba Jobin Yvon T64000) โดยใช้ 50mW
และ 514.5 นาโนเมตรความยาวคลื่น Ar เลเซอร์สีเขียวและสเซนต์
(PL) สเปกโตรมิเตอร์ (PerkinElmer LS 50B)
โดยใช้ความยาวคลื่น 300 นาโนเมตรกระตุ้นที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สินค้า
ถูก characterized โดยเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( XRD ;
ซีเมนส์ D500 ) ปฏิบัติการที่ใช้ขนาด 20 15ma Cu K 
บรรทัดในการรวมกันกับฐานข้อมูลของ jcpds ; กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ; จอล jsm-6335f ) ผ่าตัด
15 กิโล เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ( TEM ; จอล
jem-2010 ) และเลือก พื้นที่การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน ( saed )
เทคนิคปฏิบัติการที่ 200 กิโล ;เอ็กซ์เรย์โฟโตอิเล็กตรอนสเปก
( XPS ; ultradld Kratos วิเคราะห์แกน ) ปฏิบัติการ
ที่ 15 kV 10mA ในห้อง 5  10  9 ตอร์ ; Raman Spectrometer ( โจบิน
horiba Yvon t64000 ) โดยใช้ปากกา
514.5 nm ความยาวคลื่นเลเซอร์สีเขียวและ AR และแบบ
( PL ) สเปกโตรมิเตอร์ ( Perkinelmer LS 50b )
ใช้ 300 นาโนเมตรและความยาวคลื่นที่อุณหภูมิห้อง