the time-resolved photon-induced ne

the time-resolved photon-induced near-field electron microscopy (PINEM) technique has recently demonstrated additional control of the SPP properties

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เทคนิคแก้ไขเวลาเกิดโฟตอนใกล้ฟิลด์อิเล็กตรอน microscopy (PINEM) เพิ่งได้สาธิตควบคุมคุณสมบัติเบียส

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เวลาการแก้ไขโฟตอนที่เกิดขึ้นใกล้กับสนามกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (PINEM) เทคนิคได้แสดงให้เห็นเมื่อเร็ว ๆ นี้การควบคุมเพิ่มเติมจากคุณสมบัติเอสพีพี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การ time-resolved โฟตอนจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( ใกล้ pinem ) เทคนิคนี้ได้แสดงให้เห็นถึงคุณสมบัติของเครื่องควบคุมเพิ่มเติม