The dielectric data of Zn doped CCT

The dielectric data of Zn doped CCTO ceramics
were collected using the LCR meter (PSM 1735, Newton
4th Ltd, U.K) with variation in temperature at few
selected frequencies.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ข้อมูลอิเล็กทริกของสังกะสีเจือ ccto เซรามิก
ถูกเก็บรวบรวมโดยใช้เครื่องวัด LCR​​ (PSM 1735, นิวตัน
4 จำกัด , UK) ที่มีการเปลี่ยนแปลงในอุณหภูมิที่ไม่กี่
ความถี่ที่เลือก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ข้อมูลเป็นฉนวนของ Zn doped CCTO เคลือบ
ถูกเก็บรวบรวมโดยใช้ตัววัด LCR (PSM 1735 นิวตัน
จำกัด 4, U.K) มีการเปลี่ยนแปลงในอุณหภูมิที่ไม่กี่
เลือกความถี่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ข้อมูลที่เป็นฉนวนของเซรามิก zn doped ccto
ได้จากการเก็บข้อมูลการใช้ lcr เมตร( psm 1735 K นิวตัน
4 บริษัทสหรัฐฯ)ที่พร้อมด้วยความแตกต่างใน อุณหภูมิ ที่ความถี่ไม่กี่
ที่เลือก