Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) of film samples was
obtained using a Philips XL-30 scanning electron microscope. The
samples were coated with a fine gold layer before obtaining the
micrographs. All samples were examined using an accelerating
voltage of 10 kV. Micrographs of drying exposed surface and fracture
(cryofracture) of films plasticized with 0.3 g of plasticizer/g of
raw material were carried out.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สแกน (SEM) microscopy อิเล็กตรอนตัวอย่างฟิล์มได้ได้ใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนฟิลิปส์ XL-30 ที่ตัวอย่างถูกเคลือบ ด้วยทองชั้นดีก่อนที่จะได้รับการmicrographs ตัวอย่างทั้งหมดถูกตรวจสอบโดยใช้ตัวเร่งแรงดัน 10 kV Micrographs ของแห้งสัมผัสกับพื้นผิวและกระดูก(cryofracture) ภาพยนตร์ plasticized กับ 0.3 g ของกระด้างไน ล/g ของวัตถุดิบถูกดำเนิน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ตัวอย่างภาพยนตร์
ได้มาโดยใช้ฟิลิปส์ xl-30 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
ตัวอย่างถูกเคลือบด้วยชั้นทองละเอียดก่อนขอรับ
micrographs . ตัวอย่างทั้งหมดจะถูกตรวจสอบการใช้เร่ง
แรงดัน 10 kV . micrographs ของการอบแห้งสัมผัสพื้นผิวและกระดูกหัก
( cryofracture ) ของภาพยนตร์ plasticized กับ 0.3 กรัม / g
พลาสติไซเซอร์วัตถุดิบ พบว่า