X-ray diffractograms for pristine a

X-ray diffractograms for pristine and chemically treated CNTs
was obtained using X-ray diffractometer (Bruker-AXS) in the 2h
range of 20–600 at 40 V applied voltage. Radiation source of Cu
Ka was used for this analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Diffractograms X-ray สำหรับ CNTs บริสุทธิ์ และรักษาทางเคมีใช้ X-ray diffractometer (Bruker AXS) ใน 2 ชมช่วง 20 – 600 ที่ 40 V ใช้แรงดันไฟฟ้า แหล่งรังสีของ CuKa ถูกใช้สำหรับการวิเคราะห์นี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

diffractograms X-ray เพื่อ CNTs เก่าแก่และได้รับการรักษาทางเคมี
ที่ได้รับใช้ X-ray diffractometer (Bruker AXS-) ใน 2H
ช่วงของ 20-600 ที่แรงดันไฟฟ้า 40 V ใช้ แหล่งที่มาของการฉายรังสี Cu
Ka ถูกนำมาใช้สำหรับการวิเคราะห์นี้