Results from X-ray diffraction (XRD

Results from X-ray diffraction (XRD), Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR), scanning electron microscopy (SEM), contact angle measurement (CA) and also optical measurement studies are discussed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผลลัพธ์จากการเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD), ฟูรีเยแปลงอินฟราเรดก (FTIR), การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM), ติดต่อวัดมุม (CA) และยังวัดแสงศึกษาจะ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผลจากการ X-ray diffraction (XRD) ฟูเรียร์อินฟราเรด (FTIR) สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ติดต่อวัดมุม (CA) และนอกจากนี้ยังมีการศึกษาการวัดแสงที่จะกล่าวถึง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลลัพธ์ที่ได้จากเครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) ฟูเรียร์ทรานฟอร์มอินฟราเรดสเปกโทรสโกปี ( FTIR ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) , การวัดมุมสัมผัส ( CA ) และยังได้ศึกษาการวัดแสงได้ถูก