The relationship between the fabric

The relationship between the fabrication parameters used and changes to the
surface chemistry and the morphological properties were characterized with atomic force microscopy
(AFM), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), and Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความสัมพันธ์ระหว่างพารามิเตอร์การผลิตใช้และการเปลี่ยนแปลงเคมีพื้นผิวและคุณสมบัติของถูกลักษณะกับ microscopy แรงอะตอม(AFM), เอกซเรย์ photoelectron ก (XPS), และฟูรีเยกอินฟราเรดแปลง (FTIR)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความสัมพันธ์ระหว่างพารามิเตอร์การผลิตที่ใช้และการเปลี่ยนแปลง
ทางเคมีพื้นผิวและคุณสมบัติก้านโดดเด่นด้วยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
(AFM) เอ็กซ์เรย์สเปคโทรโฟโตอิเล็กตรอน (XPS) และฟูเรียร์อินฟราเรด (FTIR)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความสัมพันธ์ระหว่างการใช้พารามิเตอร์และการเปลี่ยนแปลง
ผิวเคมีและคุณสมบัติทางสัณฐานวิทยาและลักษณะ ด้วยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
( AFM ) เครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) และฟูเรียร์ทรานฟอร์มอินฟราเรดสเปกโทรสโกปี ( FTIR )