Synchrotron-based X-ray photoemissi

Synchrotron-based X-ray photoemission electron microscopy (X-PEEM), X-ray photo-electron spectroscopy
(XPS), time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and ultraviolet visible spectroscopy were
used to characterize the flotation behaviour of chalcopyrite with xanthate at different processing conditions.
The flotation recovery of chalcopyrite decreased from 97% under oxidative conditions (Eh ~385 mV SHE, pH 4)
to 41% at a reductive potential of−100mVSHE (at pH 9). X-PEEM images constructed from the metal L3 absorption
edges were used to produce near-edge X-ray absorption fine structure (NEXAFS) spectra from regions of
interest, allowing the variability in mineral surface chemistry of each mineral particle to be analysed, and the
effect of pulp potential (Eh) on the flotation of chalcopyrite to be determined. XPS, ToF-SIMS and NEXAFS
analyses of chalcopyrite particles at oxidative conditions show that the surface was mildly oxidised and covered
with adsorbed molecular CuEX. The Cu 2p XPS and Cu L2,3 NEXAFS spectra were dominated by CuI species
attributed to bulk chalcopyrite and adsorbed CuEX. At a reductive potential of −100 mV SHE, an increase in
concentration of CuI and FeIII oxides and hydroxides was observed. X-PEEM analysis was able to show the
presence of a low percentage of CuII oxides (CuO or Cu(OH)2) with predominantly CuI oxide (Cu2O) which is
not evident in Cu 2p XPS spectra.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Synchrotron ใช้เอ็กซ์เรย์ photoemission อิเล็กตรอน microscopy (X-PEEM), เอกซเรย์ถ่ายอิเล็กตรอนก(XPS), spectrometry (ToF-ซิมส์) โดยรวมเวลาบินรองไอออน และกมองเห็นรังสีอัลตราไวโอเลตได้ใช้ในการกำหนดลักษณะพฤติกรรม flotation ของ chalcopyrite กับ xanthate ที่แตกต่างกันกระบวนการกู้คืน flotation chalcopyrite ลดจาก 97% ภายใต้เงื่อนไข oxidative (Eh ~ 385 mV เธอ pH 4)41% ที่ of−100mVSHE เกิดความกล้าหาญ (ที่ pH 9) รูป X-PEEM ที่สร้างจากโลหะ L3 ดูดซึมขอบถูกใช้ในการผลิตใกล้ขอบเอ็กซ์เรย์ดูดซึมปรับโครงสร้าง (NEXAFS) แรมสเป็คตราจากแคว้นสนใจ ให้ความแปรผันที่แร่เคมีพื้นผิวของแต่ละอนุภาคแร่จะเป็น analysed และผลของเยื่อศักยภาพ (Eh) บน flotation ของ chalcopyrite จะแจ้งให้ XPS, ToF ซิมส์ และ NEXAFSวิเคราะห์ของอนุภาค chalcopyrite ที่ oxidative เงื่อนไขแสดงว่า ผิว mildly oxidised และครอบคลุมกับ adsorbed CuEX โมเลกุล Cu 2p XPS และ Cu L2 แรมสเป็คตรา NEXAFS 3 ถูกครอบงำ โดย CuI พันธุ์บันทึกจำนวนมาก chalcopyrite และ adsorbed CuEX ที่ศักยภาพกล้าหาญของ mV −100 เธอ การเพิ่มขึ้นความเข้มข้นของออกไซด์ CuI และ FeIII และ hydroxides ถูกตรวจสอบ X-PEEM วิเคราะห์ได้แสดงการสถานะเปอร์เซ็นต์ต่ำสุดของออกไซด์ CuII (CuO หรือ Cu(OH)2) กับเป็น CuI ออกไซด์ (Cu2O) ซึ่งเป็นไม่เห็นได้ชัดใน Cu 2p XPS แรมสเป็คตรา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ซินโครใช้ X-ray กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน Photoemission (X-PEEM), X-ray spectroscopy ภาพอิเล็กตรอน
(XPS) เวลาของเที่ยวบินรองไอออนมวลสาร (ToF-SIMS) และสเปคโทรอัลตราไวโอเลตมองเห็นได้ถูก
นำมาใช้เพื่ออธิบายลักษณะลอย พฤติกรรมของ chalcopyrite กับ xanthate ที่สภาวะการประมวลผลที่แตกต่างกัน.
การกู้คืนลอยของ chalcopyrite ลดลงจาก 97% ภายใต้เงื่อนไขออกซิเดชัน (เอ๊ะ ~ 385 mV SHE พีเอช 4)
ถึง 41% ที่มีศักยภาพลดลงของ 100mVSHE (ที่ pH 9) ภาพ X-PEEM สร้างขึ้นมาจากการดูดซึม L3 โลหะ
ขอบถูกนำมาใช้ในการผลิตที่อยู่ใกล้ขอบดูดซึม X-ray ปรับโครงสร้าง (NEXAFS) สเปกตรัมจากภูมิภาคของ
ดอกเบี้ยที่ช่วยให้ความแปรปรวนในวิชาเคมีพื้นผิวแร่ของแต่ละอนุภาคแร่ที่จะวิเคราะห์และ
ผลของการที่มีศักยภาพในการผลิตเยื่อกระดาษ (เอ๊ะ) บนลอยของ chalcopyrite ที่จะได้รับการพิจารณา XPS, ToF-SIMS และ NEXAFS
วิเคราะห์ของอนุภาค chalcopyrite ที่สภาวะออกซิเดชันแสดงให้เห็นว่าพื้นผิวที่ถูกออกซิไดซ์อย่างอ่อนโยนและปกคลุม
ด้วยโมเลกุลดูดซับ CuEX Cu 2p XPS และทองแดง L2,3 NEXAFS สเปกตรัมถูกครอบงำโดยสายพันธุ์ Cui
ประกอบกับ chalcopyrite จำนวนมากและดูดซับ CuEX ที่มีศักยภาพลดลงของ -100 mV SHE, การเพิ่มขึ้นของ
ความเข้มข้นของ Cui และออกไซด์ FeIII และไฮดรอกไซเป็นที่สังเกต การวิเคราะห์ X-PEEM ก็สามารถที่จะแสดงให้เห็น
การปรากฏตัวของร้อยละต่ำออกไซด์ CuII (CuO หรือ Cu (OH) 2) ที่มีส่วนใหญ่ Cui ออกไซด์ (Cu2O) ซึ่งเป็น
ที่เห็นได้ชัดใน Cu 2p XPS สเปกตรัม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ซินโครตรอนเอกซ์เรย์ด้านจุลทรรศน์อิเล็กตรอนตาม ( x-peem ) รังสีเอกซ์รูปอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปี
( XPS ) เวลา - การบินรองไอออนมวลสาร ( tof Sims ) และรังสีอัลตราไวโอเลตที่มองเห็นสเปกโทรสโกปีเป็น
ใช้สำหรับวิเคราะห์พฤติกรรมของชาลโคไพไรต์กับแซนลอยที่สภาวะแตกต่างกัน
flotation การฟื้นตัวของชาลโคไพไรต์ลดลงจาก 97% ภายใต้สภาวะออกซิเดชัน ( เอ๊ะ แต่ MV เธอ , pH 4 )
% ที่ลดลงไปศักยภาพของ− 100mvshe ( pH 9 ) x-peem ภาพสร้างจากโลหะ L3 การดูดซึม
ขอบถูกใช้เพื่อผลิตใกล้ขอบการดูดกลืนรังสีเอ็กซ์ ( nexafs ) โครงสร้างนี้มาจากภูมิภาค
ดอกเบี้ยช่วยให้ผิวของแร่เคมีของแร่แต่ละชนิดอนุภาคจะวิเคราะห์และผลที่มีศักยภาพผลิต ( เอ๋ ) ในการลอยตัวของชาลโคไพไรต์สามารถกําหนด XPS ระบบและ tof nexafs
การวิเคราะห์อนุภาคคาลโคไพไรต์ที่สภาวะออกซิเดชันที่แสดงพื้นผิวเป็นอย่างอ่อนโยนและครอบคลุมได้หมด
กับดูดซับโมเลกุล cuex . CU 2p XPS และ CU L2 ,3 nexafs SPECTRA ถูกครอบงำโดยกุยชนิด
เกิดจากกลุ่มคาลโคไพไรต์และดูดซับ cuex . ที่อาจเกิดขึ้นการลดลงของ− 100 MV เธอ การเพิ่มความเข้มข้นของชเว feiii
และออกไซด์ไฮดรอกไซด์และถูกสังเกต การวิเคราะห์ x-peem นั้นสามารถแสดงสถานะของระดับของค่า
cuii ออกไซด์ ( 2 ( หรือ CU ( OH ) 2 ) เด่น ซุย ออกไซด์ ( cu2o ) ซึ่ง
เห็นได้ชัดไม่ใน Cu 2p XPS Spectra .