Transmission electron microscopy (T

Transmission electron microscopy (TEM) images and
electronic diffraction (ED) pattern were obtained on a Philips
EM 208 transmission electron microscope with an accelerating
voltage of 200 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งภาพ microscopy อิเล็กตรอน (ยการ) และรูปแบบการเลี้ยวเบนอิเล็กทรอนิกส์ (ED) ได้รับบนเป็นฟิลิปส์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่ง EM 208 กับการเร่งแรงดันไฟฟ้า 200 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ภาพและ
เลนส์อิเล็กทรอนิกส์ (ED) รูปแบบที่ได้รับในฟิลิปส์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่งอีเอ็ม 208 กับเร่ง
แรงดันไฟฟ้า 200 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) ของภาพ และเลนส์อิเล็กทรอนิกส์
( ED ) รูปแบบได้ในฟิลิปส์
เอ็ม 208 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนกับเร่ง
แรงดัน 200 กิโลโวลต์