The Pinnacle is ideal for measureme

The Pinnacle is ideal for measurement of small, close tolerance parts, particularly parts with a high density of features, such as hard disk drive suspensions, printer heads, precision stampings, leadframes, ball-grid arrays, and chip scale packages.
The Pinnacle can be equipped with an optional through-the-lens or offset mounted laser for added flexibility in Z-axis measurements. Pinnacle models can also utilize the optional SpectraProbe™ offering sub-micron Z-axis measurement resolution.
The Pinnacle operates with one or more of VIEW Micro-Metrology's standard metrology software packages

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พินนาเคิลเหมาะสำหรับวัดชิ้นเผื่อเล็ก ปิด โดยเฉพาะอย่างยิ่งชิ้นส่วน มีความหนาแน่นสูงของคุณสมบัติ เช่นฟโรฮาร์ดดิสก์ หัวพิมพ์ แม่นยำ stampings, leadframes อาร์เรย์ตารางบอล และแพคเกจขนาดชิพพินนาเคิลสามารถติดตั้ง ด้วยการเลือกผ่านเลนส์ หรือตรงข้ามติดเลเซอร์สำหรับเพิ่มความยืดหยุ่นในการประเมิน Z-axis พินนาเคิลรุ่นยังสามารถใช้™ SpectraProbe เป็นตัวเลือกที่เสนอย่อยไมครอน Z-axis วัดความละเอียดในที่ทำงานกับแพคเกจดูไมโครมาตรวิทยาของมาตรวิทยามาตรฐานอย่างน้อยหนึ่ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พินนาเคิเหมาะสำหรับการวัดขนาดเล็กส่วนความอดทนใกล้ชิ้นส่วนโดยเฉพาะอย่างยิ่งที่มีความหนาแน่นสูงของคุณสมบัติเช่นดิสก์แขวนลอยฮาร์ดไดรฟ์หัวเครื่องพิมพ์ stampings ความแม่นยำ leadframes อาร์เรย์ลูกตารางและแพคเกจขนาดชิป.
พินนาเคิสามารถ มีการติดตั้งตัวเลือกผ่านเลนส์หรือชดเชยติดเลเซอร์สำหรับเพิ่มความยืดหยุ่นในการวัดแกน Z รุ่นพินนาเคิยังสามารถใช้ประโยชน์จากตัวเลือก SpectraProbe ™เสนอขายย่อยไมครอนละเอียดวัดแกน Z.
พินนาเคิทำงานกับหนึ่งหรือมากกว่าของ VIEW Micro-มาตรวิทยาของซอฟแวร์มาตรฐานมาตรวิทยา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สุดยอดเหมาะสำหรับการวัดขนาดเล็กปิดส่วนความอดทน โดยเฉพาะส่วนที่มีความหนาแน่นสูงของคุณสมบัติเช่นฮาร์ดดิสก์ไดรฟ์แขวนลอย , หัว , เครื่องพิมพ์ที่ต้องการ leadframes stampings , อาร์เรย์ , ตารางบอล , และชิปขนาดแพคเกจ .
สุดยอดสามารถติดตั้งตัวเลือกผ่านเลนส์หรือชดเชยเพิ่มติดเลเซอร์ การวัดความยืดหยุ่นในเอฟทีเอ .รุ่น Pinnacle ยังสามารถใช้ตัวเลือก spectraprobe ™เสนอความละเอียดการวัดไมครอนย่อย z .
สุดยอดประกอบกับหนึ่งหรือมากกว่าของมุมมอง micro มาตรวิทยามาตรฐานซอฟต์แวร์

มาตรวิทยา