The scanning electron microscope pe

The scanning electron microscope permits the observation and characterization of heterogenous organic and inorganic materials on a nanometer to micrometer scale.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนช่วยให้สังเกตและคุณสมบัติของวัสดุอินทรีย์ และอนินทรีย์ heterogenous บน nanometer จะสเกลไมโครมิเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดอนุญาตให้สังเกตและศึกษาคุณสมบัติของวัสดุอินทรีย์และอนินทรี heterogenous ในนาโนเมตรเพื่อไมโครมิเตอร์ขนาด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนให้สังเกตและศึกษาสมบัติของกลุ่มวัสดุอินทรีย์และอนินทรีในนาโนเพื่อไมโครมิเตอร์ขนาด