The phases, vibration modes and mor

The phases, vibration modes and morphologies of the products were
characterized using X-ray diffraction (XRD)—recorded on a D-500
Siemens X-ray diffractometer with Cu Kα radiation and the diffraction
angles of 2θ=10–60° range, Bruker Tensor27 Fourier transform
infrared (FTIR) spectrometer with KBr as a diluting agent—operated in
400–4000 cm−1 range, transmission electron microscope (TEM)—carried
out on a JEM-2010 JEOL TEM at 200 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ระยะ โหมดการสั่นสะเทือน และ morphologies ของผลิตภัณฑ์ได้ลักษณะการใช้เอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD) ซึ่งบันทึกไว้ใน D-500เอ็กซ์เรย์ซีเมนส์ diffractometer Cu Kα รังสีและการเลี้ยวเบนที่มุมของ 2θ = 10 – 60° ช่วง การแปลงฟูรีเย Tensor27 Brukerอินฟราเรดสเปกโตรมิเตอร์ (FTIR) กับ KBr เป็นตัวแทน diluting — ดำเนินการใน400 – 4000 cm−1 ช่วง ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ยการ) ตัวดำเนินการบนการยการ JEOL JEM 2010 200 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ขั้นตอนโหมดการสั่นสะเทือนและรูปร่างลักษณะของผลิตภัณฑ์ที่ได้รับการ
ลักษณะการใช้ X-ray diffraction (XRD) -recorded ใน D-500
ซีเมนส์มาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ด้วยการฉายรังสี Cu Kαและการเลี้ยวเบน
ของมุม2θ = 10-60 ช่วง°, Bruker Tensor27 แปลงฟูริเย
อินฟราเรด (FTIR) สเปกโตรมิเตอร์กับ KBr เป็นเจือจางตัวแทนดำเนินการใน
400-4000 เซนติเมตร-1 ช่วงการส่งผ่านกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) -carried
ออก JEM 2010 JEOL TEM ที่ 200 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ขั้นตอนโหมดการสั่นสะเทือน และลักษณะโครงสร้างของผลิตภัณฑ์
ลักษณะโดยใช้การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ - บันทึกใน d-500 เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับ Cu K
ซีเมนส์αการเลี้ยวเบนของรังสี และมุมของθ
2 = 10 – 60 องศาช่วง BRUKER tensor27 ฟูเรียร์
อินฟราเรด ( FTIR ) คุ่มาเป็นเจือจางด้วย เจ้าหน้าที่ดำเนินการใน
400 – 4000 cm − 1 ช่วงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ( TEM ) - อุ้ม
ใน jem-2010 จอล TEM ที่ 200 KV .