Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) analyses

Qualitative evaluation ofthe degree of mixture (distribution and

dispersion ofthe TPC phase in TPS) was performed by using a model

JSM 6510 JEOL SEM, operating at a 5 kV. Samples were mounted

with carbon tape on aluminum stubs. Cross-sections of fractured

samples were mounted with the cross-section positioned upward

on the stubs. All specimens were sputter-coated with gold in a

sputter (Balzer, SCD 050).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนการวิเคราะห์อิเล็กตรอน (SEM)การประเมินคุณภาพระดับของส่วนผสม (แจกจ่าย และการกระจายของเฟส TPC ใน TPS) ดำเนินการ โดยใช้แบบจำลองSEM JEOL 6510 JSM งาน 5 kV ตัวอย่างติดตั้งเทปคาร์บอนบนอลูมิเนียมสตับ ขนาดหนาต้ดแตกร้าวไปตัวอย่างติดตั้งกับภาคตัดขวางในตำแหน่งที่สูงขึ้นในค่ายนี้ ตัวอย่างทั้งหมดถูก sputter เคลือบ ด้วยทองมีsputter (Balzer, SCD 050)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) การวิเคราะห์การประเมินคุณภาพการศึกษาระดับปริญญาofthe ผสม (การจัดจำหน่ายและการกระจายตัวofthe เฟส TPC ในพีเอส) ได้ดำเนินการโดยใช้แบบจำลองJSM 6510 JEOL SEM การดำเนินงานใน 5 กิโลโวลต์ ตัวอย่างติดด้วยเทปคาร์บอนบนต้นขั้วอลูมิเนียม ส่วนครอสร้าวตัวอย่างที่ถูกติดตั้งกับ cross-section ในตำแหน่งที่สูงขึ้นในไม่สมบูรณ์ ตัวอย่างทั้งหมดได้รับการพ่นเคลือบด้วยทองคำในปะทุ (Balzer, SCD 050)