The structures of commercially frie

The structures of commercially fried durian chips and the
microwave vacuum dried durian chips prepared using various prtreatment methods and drying conditions were investigated by
scanning electron microscope (SEM). The cross-section of the samples was sputter-coated with gold and determined with a scanning
electron microscope (JEOL, JSM 5600LV, Tokyo, Japan). Magnification was adjusted to 100.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างของชิทุเรียนทอดในเชิงพาณิชย์และไมโครเวฟเครื่องดูดฝุ่นแห้งทุเรียนทอดกรอบเตรียมโดยใช้วิธี prtreatment ต่าง ๆ และเงื่อนไขการอบแห้งถูกตรวจสอบโดยสแกน (SEM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ระหว่างส่วนของตัวอย่างถูก sputter เคลือบ ด้วยทอง และ มีการสแกนที่กำหนดกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (JEOL, 5600LV JSM โตเกียว ญี่ปุ่น) มีการปรับปรุงขยาย 100

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างของทอดในเชิงพาณิชย์ชิปทุเรียนและ
สูญญากาศไมโครเวฟแห้งทอดทุเรียนจัดทำโดยใช้วิธีการต่างๆ prtreatment และเงื่อนไขในการอบแห้งที่ได้รับการตรวจสอบโดย
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ข้ามส่วนของตัวอย่างที่ได้รับการพ่นเคลือบด้วยทองคำและมุ่งมั่นกับการสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (JEOL, JSM 5600LV, โตเกียว, ญี่ปุ่น) ขยายการปรับถึง 100

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างของในเชิงพาณิชย์ทุเรียนทอดชิปและชิปแห้งทุเรียน
ไมโครเวฟสุญญากาศที่เตรียมโดยใช้วิธี prtreatment ต่างๆและสภาวะอบแห้งได้โดย
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ขนาดของตัวอย่างที่ถูกเคลือบด้วยทองและมุ่งมั่นละล่ำละลักด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน
( Jeol JSM 5600lv , โตเกียว , ญี่ปุ่น ) ปรับขยายเป็น 100 .