Determination of crystallinitywas d

Determination of crystallinitywas done by a PW3710 Philips
Analyical X-ray B.V. static Wide Angle X-ray Scattering
(WAXS) diffractometer, using a Ni filtered Cu K radiation,
generated by an anode device operating at 40 kV and 30mA
in conjunction with a proportional detector. The patterns were
recorded with a fixed time of 0.4 s per step of 0.02◦ in the
4

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Determination of crystallinitywas done by a PW3710 PhilipsAnalyical X-ray B.V. static Wide Angle X-ray Scattering(WAXS) diffractometer, using a Ni filtered Cu K radiation,generated by an anode device operating at 40 kV and 30mAin conjunction with a proportional detector. The patterns wererecorded with a fixed time of 0.4 s per step of 0.02◦ in the4<2<30◦ range

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การกำหนด crystallinitywas ทำโดยฟิลิปส์ PW3710
Analyical X-ray BV คงมุมกว้างกระเจิงรังสีเอกซ์
(WAXS) diffractometer ใช้ Ni Cu กรอง K? รังสีที่เกิดจากอุปกรณ์การปฏิบัติงานที่ขั้วบวก 40 กิโลโวลต์และ 30mA ร่วมกับเครื่องตรวจจับสัดส่วน รูปแบบที่ได้รับการบันทึกไว้ด้วยเวลาที่กำหนด 0.4 s ต่อขั้นตอนของ0.02◦ใน 4 <2 <30◦ช่วง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การกำหนด crystallinitywas ทำโดย pw3710 Philips
เอ็กซ์เรย์ analyical ป้องกันไฟฟ้าสถิตมุมกว้าง x - เรย์กระจัดกระจาย
( waxs ) ดิฟแฟรกโทมิเตอร์โดยใช้ชั้นกรอง Cu K  รังสี
สร้างโดยขั้วบวกอุปกรณ์ผ่าตัด 40 กิโล และ 30ma
ร่วมกับเครื่องตรวจจับตามสัดส่วน แบบถูก
บันทึกเวลาถาวร 0.4 s ต่อขั้นตอน 0.02 ◦ใน
4 < 2  < 30 ◦ช่วง