Fig. 4. XRD measurement of a refere

Fig. 4. XRD measurement of a reference ZnO sample without treatment (dashedline) and a layer prepared using 80 s d–w treatment (continuous line). Both layers had a thickness of 1.6 mm (B2H6/DEZ ¼ 1.1 Á 10 À 3).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 4 วัด XRD ของการอ้างอิงตัวอย่าง ZnO โดยรักษา (dashedline) และชั้นเตรียมใช้รักษา d – w s 80 (บรรทัดต่อเนื่อง) ทั้งสองชั้นมีความหนา 1.6 มม. (B2H6 DEZ ¼ 1.1 Á 10 À 3)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 4. วัด XRD ของตัวอย่าง ZnO อ้างอิงโดยไม่ต้องรักษา (dashedline) และชั้นเตรียมใช้ 80 รักษา SD-W (สายต่อเนื่อง) ชั้นทั้งสองมีความหนา 1.6 มิลลิเมตร (B2H6 / DEZ ¼ 1.1 10 3)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 4 วิเคราะห์การวัดของ ZnO ตัวอย่างโดยไม่รักษา ( dashedline ) และชั้นพร้อมใช้ 80 S D ) W ( บรรทัดรักษาต่อเนื่อง ) ทั้งสองชั้นมีความหนา 1.6 มม. ( b2h6 / เดซ¼ 1.1 Á 10 À 3 )