Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) allows microstructural analysis of films and is useful in understanding the relationships between the films’ structural characteristics and physical properties,

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ช่วยให้การวิเคราะห์ microstructural ของภาพยนตร์ และเป็นประโยชน์ในการเข้าใจความสัมพันธ์ระหว่างลักษณะโครงสร้างของฟิล์มและสมบัติทางกายภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ช่วยให้การวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของภาพยนตร์และเป็นประโยชน์ในการทำความเข้าใจความสัมพันธ์ระหว่างฟิล์ม 'ลักษณะโครงสร้างและคุณสมบัติทางกายภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ช่วยให้การวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคของฟิล์มและเป็นประโยชน์ในการเข้าใจความสัมพันธ์ระหว่างโครงสร้างและคุณสมบัติทางกายภาพของฟิล์ม ' ,