The system used in this work allows

The system used in this work allows measurements of the refractive index in a range from 1.33 to 1.70 at 589 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ระบบที่ใช้ในการทำงานนี้ช่วยให้การตรวจวัดดัชนีการหักเหในช่วงจาก 1.33 ถึง 1.70 ที่ 589 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ระบบที่ใช้ในการทำงานนี้จะช่วยให้การตรวจวัดดัชนีหักเหอยู่ในช่วง 1.33-1.70 ที่ 589 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ระบบที่ใช้ในงานนี้ ให้วัดจากดัชนีการหักเหของแสงในช่วงจาก 1.33 1.70 ที่ 589 nm .