The determination of CNC dimensions

The determination of CNC dimensions is complicated due to specific limitations of the different analytical methods used. On the one hand, in the case of TEM images for unstained CNC, the main drawbacks are limited contrast and sample damage from the electron beam. On the other hand, the tip/sample broadening represents the main limitation for AFM, resulting in an overestimation of CNC dimensions. Thus, both TEM and AFM were performed in order to have a detailed characterization of the dimensions of the individual crystallites. Thus, TEM images of negatively stained preparations were recorded in order to measure the length and width of the particle with a better precision, while AFM images allowed to measure the CNC thickness. Moreover, aggregation, bundling, network formation and overlapping of individual CNCs also can make accurate dimension measurements difficult with both techniques

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กำหนดมิติ CNC มีความซับซ้อนเนื่องจากข้อจำกัดที่เฉพาะเจาะจงของวิธีวิเคราะห์แตกต่างกันที่ใช้ ในด้านหนึ่ง ในกรณีของ TEM ภาพสำหรับ unstained CNC ข้อเสียหลักได้จำกัดความเปรียบต่างและตัวอย่างความเสียหายจากลำอิเล็กตรอน บนมืออื่น ๆ เคล็ดลับ/ตัวอย่างขยายแสดงข้อจำกัดหลักของ AFM ในการ overestimation มิติ CNC ดังนั้น ทั้งแบบ TEM และ AFM ดำเนินการเพื่อให้มีการจำแนกลักษณะรายละเอียดมิติของ crystallites แต่ละ ดังนั้น TEM ภาพการเตรียมการย้อมผลเสียถูกบันทึกไว้เพื่อวัดความยาวและความกว้างของอนุภาคมีความแม่นยำที่ดีขึ้น ในขณะที่ภาพ AFM สามารถวัดความหนาของ CNC นอกจากนี้ รวม รวม สร้างเครือข่าย และซ้อน CNCs ละยังสามารถทำให้การวัดถูกต้องมิติยาก ด้วยเทคนิคทั้งสอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การกำหนดขนาด CNC มีความซับซ้อนเนื่องจากข้อ จำกัด ที่เฉพาะเจาะจงของวิธีการวิเคราะห์ที่แตกต่างกันมาใช้ ในมือข้างหนึ่งในกรณีของภาพ TEM สำหรับ CNC ไม่มีรอยเปื้อนที่ข้อบกพร่องหลักมีความคมชัดและความเสียหายที่ จำกัด ตัวอย่างจากลำอิเล็กตรอน บนมืออื่น ๆ ที่ขยายปลาย / ตัวอย่างแสดงให้เห็นถึงข้อ จำกัด หลักสำหรับ AFM ผลในการประเมินค่าสูงของมิติ CNC ดังนั้นทั้งสอง TEM และ AFM ได้ดำเนินการเพื่อให้มีลักษณะรายละเอียดของขนาดของ crystallites บุคคล ดังนั้นภาพ TEM ของการเตรียมสีในเชิงลบที่ถูกบันทึกไว้เพื่อวัดความยาวและความกว้างของอนุภาคที่มีความแม่นยำที่ดีขึ้นในขณะที่ภาพ AFM ได้รับอนุญาตในการวัดความหนาของซีเอ็นซี นอกจากนี้การรวม bundling ก่อเครือข่ายและการทับซ้อนกันของแต่ละ CNCs ยังสามารถทำให้การวัดมิติที่ถูกต้องที่ยากลำบากกับทั้งสองเทคนิค

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การหามิติ CNC ซับซ้อนเนื่องจากเฉพาะข้อจำกัดของวิธีการวิเคราะห์ต่าง ๆที่ใช้ ในมือข้างหนึ่ง ในกรณีของภาพแบบไม่มีรอยเปื้อน CNC ประการหลัก จำกัด ความคมชัดและตัวอย่างความเสียหายจากลำแสงอิเล็กตรอน . บนมืออื่น ๆ , เคล็ดลับ / ตัวอย่างขยายเป็นข้อจำกัดหลักของ AFM เป็นผลในการประเมินมากเกินไปของมิติ CNC ดังนั้น ทั้ง TEM และ AFM มีการปฏิบัติเพื่อให้มีลักษณะรายละเอียดของขนาดของ crystallites แต่ละ ดังนั้น ภาพสีแบบในการเตรียมที่ถูกบันทึกไว้เพื่อวัดความยาวและความกว้างของอนุภาคมีความแม่นยำกว่า ในขณะที่ AFM ภาพอนุญาตให้วัด CNC ความหนา นอกจากนี้ การรวม การรวมกลุ่ม การสร้างเครือข่าย และทับซ้อนกันของแต่ละคนยังสามารถให้ CNCs การวัดมิติที่ถูกต้องยากด้วยเทคนิคทั้ง