The use of high resolution or magne

The use of high resolution or magnetic sector mass spectrometers has become more common in ICP-MS, allowing the user to eliminate or reduce the effect of interferences due to mass overlap. Figure 2 shows a typical instrumental configuration used in high resolution (HR) ICP-MS. In this type of instrument, both a magnetic sector and an electric sector are used to separate and focus the ions. The magnetic sector is dispersive with respect to both ion energy and mass and focuses all the ions with diverging angles of motion coming from the entrance slit of the spectrometer. The electric sector is dispersive only to ion energy and focuses the ions onto the exit slit. Such an arrangement is called a double-focusing high resolution mass spectrometer. In ICP-MS, reverse Nier-Johnson geometry – where the magnetic sector is before the electric sector – is commonly used in order to decouple the electric fields in the electric sector from any electric field originating by the ICP RF generator.
The resolution of high-resolution instruments can be changed by adjusting the width of

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การใช้ความละเอียดสูงหรือแม่เหล็กภาคมวลอันกลายใน ICP MS การอนุญาตให้ผู้ใช้ เพื่อลดผลกระทบของ interferences เนื่องจากทับซ้อนมวล รูปที่ 2 แสดงการกำหนดค่าเครื่องมือทั่วไปใช้ความละเอียดสูง (HR) ICP MS ในเครื่องดนตรีชนิดนี้ แม่เหล็กภาคและภาคการไฟฟ้าที่ใช้เพื่อแยก และโฟกัสไอออน ภาคแม่เหล็กเป็น dispersive เกี่ยวกับไอออนพลังงานและมวล และประจุทั้งหมดกับแตกมุมการเคลื่อนไหวที่มาจากช่องทางเข้าของสเปกโตรมิเตอร์มุ่งเน้น ภาคไฟฟ้าเป็น dispersive เฉพาะกับไอออนพลังงาน และมุ่งเน้นประจุลงบนร่องออก การจัดเรียงเรียกว่าโฟกัสสองสเปกโตรมิเตอร์ขนาดใหญ่ความละเอียดสูง ใน ICP MS เรขาคณิต Nier จอห์นสันย้อนหลัง – ได้ทดลองก่อนภาคไฟฟ้าแม่เหล็กถูกใช้เพื่อ decouple สนามไฟฟ้าในภาคไฟฟ้าจากสนามไฟฟ้าใด ๆ เกิด โดยกำเนิด ICP RFสามารถเปลี่ยนความละเอียดของเครื่องมือความละเอียดสูง โดยการปรับความกว้างของ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การใช้ความละเอียดสูงหรือแม่เหล็กสเปกโทรมิเตอร์มวลภาคได้กลายเป็นเรื่องธรรมดาใน ICP-MS ที่ช่วยให้ผู้ใช้สามารถขจัดหรือลดผลกระทบจากการรบกวนเนื่องจากการทับซ้อนมวล รูปที่ 2 แสดงการกำหนดค่าการใช้เครื่องมือทั่วไปที่ใช้ในความละเอียดสูง (HR) ICP-MS ในประเภทของตราสารนี้ทั้งภาคแม่เหล็กและภาคไฟฟ้าที่ใช้ในการแยกและมุ่งเน้นไอออน ภาคแม่เหล็กกระจายด้วยความเคารพต่อทั้งพลังงานและมวลไอออนและมุ่งเน้นไอออนทั้งหมดที่มีมุมของการเคลื่อนไหวถ่างออกมาจากช่องทางเข้าของสเปกโตรมิเตอร์ ภาคไฟฟ้าเป็นเพียงการกระจายพลังงานไอออนไอออนและมุ่งเน้นไปยังช่องทางออก วิธีการดังกล่าวจะเรียกว่าเป็นคู่โฟกัสความละเอียดสูงสเปกโตรมิเตอร์มวล ใน ICP-MS ย้อนกลับ Nier จอห์นสันเรขาคณิต - ที่ภาคแม่เหล็กก่อนภาคไฟฟ้า - เป็นที่นิยมใช้ในการสั่งซื้อจะแยกสนามไฟฟ้าในภาคไฟฟ้าจากการใด ๆ ที่เกิดสนามไฟฟ้าจากเครื่องกำเนิดไฟฟ้า ICP RF.
ความละเอียดสูง เครื่องมือ -resolution สามารถเปลี่ยนแปลงได้โดยการปรับความกว้างของ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ใช้ความละเอียดสูง หรือ แม่เหล็กภาคมวลาได้กลายเป็นสามัญมากขึ้นใน ICP-MS , ช่วยให้ผู้ใช้ที่จะขจัดหรือลดผลกระทบของการแทรกแซงจากมวลที่ทับซ้อนกัน รูปที่ 2 แสดงการใช้เครื่องมือทั่วไปในความละเอียดสูง ( HR ) icp-ms. ในเครื่องมือชนิดนี้ ทั้งภาคธุรกิจและภาคไฟฟ้าแม่เหล็กใช้ในการแยกและโฟกัสไอออน ภาคแม่เหล็กกระจายตัวด้วยความเคารพทั้งพลังงานและมวลไอออนและไอออนที่มีการเน้นทุกมุมของการเคลื่อนไหวที่มาจากโรคระบาดของสเปกโตรมิเตอร์ ภาคไฟฟ้ากระจายตัวเฉพาะไอออนพลังงานและมุ่งเน้นไอออนเข้าออกร่อง การจัดเรียงดังกล่าวจะเรียกว่าคู่เน้นความละเอียดสูงแมสสเปกโตรมิเตอร์ ในเรขาคณิตและ ICP-MS ย้อนกลับนีเออร์จอห์นสันที่ภาคก่อนภาคไฟฟ้าแม่เหล็กและเป็นที่นิยมใช้เพื่อดีคัปเปิลด้านไฟฟ้าในภาคไฟฟ้าจากสนามไฟฟ้าที่เกิดจาก ICP RF ควบคุมไฟฟ้าความละเอียดของเครื่องมือที่มีความละเอียดสูงที่สามารถเปลี่ยนแปลงได้โดยการปรับความกว้างของ