Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) on the chemically activated samples was carried out for characterization of the microstructure and particle morphology by a high resolution Gemini, Zeiss-Ultra 55.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนอิเล็กตรอน (SEM) ในตัวอย่างที่ใช้งานสารเคมีดำเนินการสำหรับการจำแนกลักษณะของสัณฐานโครงสร้างจุลภาคและอนุภาค โดยราศีเมถุน ความละเอียดสูง Zeiss Ultra 55

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ในการเปิดใช้งานตัวอย่างสารเคมีที่ได้รับการดำเนินการสำหรับลักษณะของโครงสร้างจุลภาคและอนุภาคสัณฐานโดยความละเอียดสูงราศีเมถุน Zeiss-55 อัลตร้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ในทางเปิดตัวอย่างพบว่าลักษณะของโครงสร้างจุลภาคและสัณฐานของอนุภาคโดยความละเอียดสูงราศีเมถุน Zeiss อัลตร้า 55