Elemental composition was determine

Elemental composition was determined by recording XPS core level spectra after sputter etching. The intensity of the Cr peak increased with increasing Cr content whereas the contribution from both Zr and N decreased.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ธาตุองค์ประกอบที่ถูกกำหนด โดยบันทึกแรมสเป็คตราระดับหลัก XPS หลังจากกัด sputter ความเข้มของจุดสูงสุด Cr เพิ่มขึ้น ด้วยการเพิ่มเนื้อหา Cr ในขณะที่ลดลงส่วน Zr และ N

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

องค์ประกอบธาตุถูกกำหนดโดยการบันทึกสเปกตรัมระดับแกน XPS หลังจากแกะสลักพ่น ความเข้มของยอด Cr เพิ่มขึ้นด้วยการเพิ่มปริมาณ Cr ขณะที่การมีส่วนร่วมจากทั้ง Zr และไม่มีลดลง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

องค์ประกอบของธาตุที่ถูกกำหนดจากบันทึกหลังการปะทุระดับแกน Spectra XPS . ความเข้มของยอด CR เพิ่มขึ้น CR เนื้อหาในขณะที่ผลงานจากทั้ง zm และลดลง