SEM (scanning electron microscope)

SEM (scanning electron microscope) used to determine surface morphology of CCP.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

SEM (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด) ใช้ในการกำหนดพื้นผิวลักษณะทางสัณฐานวิทยาของ CCP

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

SEM (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน) ใช้ในการกำหนดลักษณะพื้นผิวของ CCP

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

SEM ( กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ) ที่ใช้ในการตรวจสอบพื้นผิวของคอนกรีต .