Transmission electron microprobe an

Transmission electron microprobe analysis
Whole grains of sand were embedded in epoxy and subsequently
polished to half their thickness. These mounts were carbon coated
and then examined in a JEOL 8600 electron microprobe. Areas were
chosen for further examination in the transmission electron microscope
(TEM). The mounts were glued to a glass slide and mechanically
ground to a thickness of ~30 μm. Copper TEM grids were glued to
sand grain sections with Crystalbond adhesive, and removed from
the glass slide. The TEM grid was thinned in a Gatan Duo Ar Ion Mill
to perforation. The TEM grids were then carbon coated and examined
in a Philips CM 300 FEG (field emission gun) at 297 kV and a Philips
EM 420 at 120 kV. Conventional TEM and selected area electron diffraction
(SAED) methods were used to determine the crystalline nature
of the phases at the quartz/coating boundaries (EM 420).
Scanning (S)TEM methods were used to obtain X-ray maps for elemental
distributions (CM 300 FEG). X-rays were collected using a
light element Oxford energy dispersive spectrometer (EDS) and
processed by the software ESVision 4. Dwell time for X-ray acquisition
was 1 s/pixel. At each pixel an entire X-ray spectrum was collected
which is then available for data mining. Simultaneously, an
annular dark-field (ADF) image was collected which is predominantly
sensitive to mean atomic number and mass thickness.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่ง electron microprobe วิเคราะห์เม็ดทรายทั้งหมดถูกฝัง ในอิพ็อกซี และต่อมาขัดไปครึ่งความหนา ม้าเหล่านี้ถูกเคลือบคาร์บอนและจากนั้น ตรวจสอบใน JEOL 8600 electron microprobe มีพื้นที่การตรวจสอบเพิ่มเติมในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน(TEM) อุปกรณ์ติดตั้งแบบถูกติดกาว เพื่อสไลด์แก้ว และกลไกพื้นดินความหนาของ ~ 30 ไมครอน ทองแดง TEM กริดถูกติดกาวส่วนเม็ดทรายกับ Crystalbond กาว และเอาออกจากสไลด์แก้ว ตาราง TEM ถูกบางตาในโรงสีไอออน Ar Duo Gatanการเจาะ กริด TEM ถูกแล้วคาร์บอนเคลือบ และการตรวจสอบในเครื่อง Philips ซม. 300 FEG (การปล่อยปืน) ที่ 297 kV และ Philips420 EM 120 kV TEM ธรรมดาและกระจายอิเล็กตรอนของพื้นที่ที่เลือกวิธีการ (SAED) ใช้ในการกำหนดลักษณะผลึกขั้นตอนที่ขอบผลึก/เคลือบ (EM 420)การสแกน TEM (S) ถูกใช้วิธีการเอ็กซเรย์แผนที่สำหรับธาตุการกระจาย (FEG 300 ซม.) รังสีเอกซ์ถูกเก็บรวบรวมใช้เป็นแสงองค์ประกอบ Oxford พลังงาน dispersive สเปกโตรมิเตอร์ (EDS) และประมวลผล โดยซอฟต์แวร์ ESVision 4 ซีเควนซ์เวลาซื้อเอ็กซเรย์แก้ไข 1 s/พิก เซล รวบรวมที่แต่ละพิกเซล X-ray ทั้ง สเปกตรัมซึ่งจากนั้นสามารถใช้ได้สำหรับการทำเหมืองข้อมูล พร้อมกัน การเก็บภาพแหวนมืดฟิลด์ (ADF) ซึ่งเป็นส่วนใหญ่มีความสำคัญหมายถึงเลขอะตอมและความหนาของมวล

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การส่งผ่านอิเล็กตรอน microprobe วิเคราะห์
ธัญพืชของทรายที่ถูกฝังอยู่ในอีพ็อกซี่และต่อมา
ขัดครึ่งความหนาของพวกเขา ม้าเหล่านี้ถูกเคลือบคาร์บอน
และการตรวจสอบในอิเล็กตรอน microprobe JEOL 8600 แล้ว พื้นที่ที่ถูก
เลือกสำหรับการตรวจสอบต่อไปในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
(TEM) ม้าถูกตรึงอยู่กับกระจกสไลด์และกลไก
พื้นความหนาของ ~ 30 ไมครอน กริดทองแดง TEM ถูกตรึงอยู่กับ
ส่วนเม็ดทรายด้วยกาว Crystalbond และลบออกจาก
สไลด์แก้ว ตาราง TEM ถูกบางตาในไอออน Mill Gatan Duo เท่
ที่จะทะลุ กริด TEM ถูกแล้วคาร์บอนเคลือบและตรวจสอบ
ในฟิลิปส์ CM 300 FEG (เขตการปล่อยปืน) ที่ 297 กิโลโวลต์และฟิลิปส์
อีเอ็ม 420 ที่ 120 กิโลโวลต์ ธรรมดา TEM และเลือกเลนส์พื้นที่อิเล็กตรอน
(Saed) วิธีการที่ใช้ในการกำหนดลักษณะผลึก
ของขั้นตอนที่ขอบเขตควอทซ์ / เคลือบ (เอ็ม 420).
การสแกน (S) วิธี TEM ถูกนำมาใช้เพื่อให้ได้แผนที่ X-ray สำหรับธาตุ
กระจาย ( CM 300 FEG) รังสีเอกซ์ที่ถูกเก็บรวบรวมโดยใช้
องค์ประกอบแสง Oxford กระจายพลังงานสเปกโตรมิเตอร์ (EDS) และ
การประมวลผลโดยซอฟต์แวร์ ESVision 4. เวลาอยู่สำหรับการซื้อ X-ray
1 S / พิกเซล ในแต่ละพิกเซลทั้งคลื่นความถี่ X-ray ที่ถูกเก็บรวบรวม
ซึ่งมีอยู่แล้วสำหรับการทำเหมืองข้อมูล พร้อมกันเป็น
วงแหวนสนามมืด (ADF) ภาพที่ถูกเก็บรวบรวมซึ่งเป็นส่วนใหญ่
ที่มีความสำคัญที่จะหมายถึงเลขอะตอมและความหนามวล