3. Results and discussion3.1. Cryst

3. Results and discussion
3.1. Crystallinity and crystallite size analysis using XRD data
The crystal structure and phase purity of the samples were
investigated using powder XRD. The powder X-ray diffraction
study was performed using X’Pert diffractometer withKaradiation of wavelength 1.5406
˚ A. A beam voltage of 40 KV and a 30 mA
beam current were used. The data were recorded at a continuous
scan rate of 0.31/min and the phase was identified with JCPDS
database.Fig. 1represents the XRD patterns of synthesized ZnO.
All difractograms show the nine prominent peaks (indexed with
JCPDS 36-1451) which are narrowed and highly intense. This
reveals that the formed products have good crystallinity. The peak
intensity of the (1 0 1) reflection for the as-prepared ZnO samples
decreases in the order A34A24A1 and hence the crystallinity of
the samples also deter in the same order. From the peak intensities, it is also inferred that the growth velocity of the nano rods
formed at pH 9 is very high compared to those formed at pH of 11
and 13 which is confirmed by the length of the rods obtained from
SEM images. The average crystallite sizes of the as-prepared
samples were determined using Debye Scherer’s formula (Eq. 1).
For the crystallite size analysis, the highly intense and sharp
diffraction peak at 2y¼36.31corresponds to the (1 0 1) diffraction
of the ZnO hexagonal wurtzite phase is employed.
/DS¼0:9l=bcosy ð1Þ
where/DSis the average crystallite size, lis the CuKaradiation
wavelength, 1.5406˚
A,bis the full width at half maximum in
radians and y is the scattering angle in degree. The average
crystallites of A1, A2 and A3 are listed inTable 1.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3. ผลลัพธ์ และสนทนา3.1. crystallinity crystallite ขนาดวิเคราะห์และใช้ข้อมูล XRDคริสตัลโครงสร้างและระยะความบริสุทธิ์ของตัวอย่างได้ตรวจสอบโดยใช้ผง XRD ผงการเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนดำเนินการศึกษาใช้ withKaradiation diffractometer X'Pert ของความยาวคลื่น 1.5406˚อ. แสงแรงดัน 40 KV และ 30 mAลำปัจจุบันถูกใช้ บันทึกข้อมูลที่มีอย่างต่อเนื่องอัตราการสแกนของ$ 0.31/min และขั้นตอนการระบุกับ JCPDSdatabase.Fig 1represents รูป XRD ของ ZnO ที่สังเคราะห์Difractograms ทั้งหมดแสดงยอดเด่นเก้า (ดัชนีด้วยJCPDS ตปา 36) ซึ่งจะจำกัด และรุนแรงมากขึ้น นี้เปิดเผยว่า ผลิตภัณฑ์ที่มีรูปแบบมี crystallinity ดี จุดสูงสุดความเข้มของ (1 0) สะท้อนตัวอย่าง ZnO เตรียมเป็นลดลงในใบสั่ง A34A24A1 และดังนั้น crystallinity ของตัวอย่างยังเป็นอุปสรรคในลำดับเดียวกับ จากการปลดปล่อยก๊าซสูงสุด มันจะยังสรุปที่เร็วเจริญเติบโตของก้านนาโนเกิดขึ้นที่ค่า pH 9 มีสูงมากเมื่อเทียบกับที่เกิดที่ pH 11และ 13 ซึ่งยืนยัน โดยความยาวของก้านได้รับจากภาพ SEM ขนาด crystallite เฉลี่ยของการเป็นเตรียมตัวอย่างที่กำหนดโดยใช้สูตรของ Scherer Debye (Eq. 1)สำหรับการวิเคราะห์ขนาด crystallite สูงเข้มคมชัดคการเลี้ยวเบนที่ 2y¼36.31corresponds (1 0 1) การเลี้ยวเบนของ ZnO มีจ้างระยะ wurtzite หกเหลี่ยม/DS¼0:9 l = bcosy ð1Þที่ / DSis crystallite เฉลี่ยขนาด lis CuKaradiationความยาวคลื่น 1.5406˚Bis เป็น ความกว้างเต็มที่ไม่เกินครึ่งในเป็นเรเดียนและ y อยู่ในองศามุม scattering ค่าเฉลี่ยcrystallites A1, A2 และ A3 จะแสดง inTable 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3. ผลและการอภิปราย
3.1 ผลึกและการวิเคราะห์ขนาดผลึกโดยใช้ข้อมูล XRD
โครงสร้างผลึกและความบริสุทธิ์ขั้นตอนของตัวอย่างที่ได้รับการ
ตรวจสอบโดยใช้ XRD ผง ผง X-ray diffraction
การศึกษาได้รับการดำเนินการโดยใช้ withKaradiation X'pert diffractometer ของความยาวคลื่น 1.5406
˚ A. แรงดันคาน 40 KV และ 30 mA
คานปัจจุบันถูกนำมาใช้ ข้อมูลที่ถูกบันทึกไว้อย่างต่อเนื่อง
อัตราการสแกน 0.31 / นาทีและเฟสที่ถูกระบุด้วย JCPDS
database.Fig 1represents รูปแบบ XRD ของซิงค์ออกไซด์ที่สังเคราะห์
difractograms ทั้งหมดแสดงเก้ายอดเขาที่โดดเด่น (การจัดทำดัชนีที่มี
JCPDS 36-1451) ซึ่งได้มีการลดลงอย่างมากและรุนแรง นี้
แสดงให้เห็นว่าผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นมีความเป็นผลึกที่ดี ยอดเขาที่
ความเข้มของ (1 0 1) สะท้อนให้เห็นถึงการเตรียมเป็นตัวอย่างซิงค์ออกไซด์
ลดลงใน A34A24A1 คำสั่งและด้วยเหตุนี้ผลึกของ
ตัวอย่างที่ยังเป็นอุปสรรคในลำดับเดียวกัน จากความเข้มสูงสุดมันก็เหมาเอาว่าความเร็วของการเจริญเติบโตของแท่งนาโน
ที่เกิดขึ้นที่ pH 9 อยู่ในระดับสูงมากเมื่อเทียบกับที่เกิดขึ้นที่พีเอช 11
และ 13 ซึ่งได้รับการยืนยันโดยความยาวของแท่งที่ได้รับจาก
ภาพ SEM ขนาดเฉลี่ยของผลึกที่เตรียม
ตัวอย่างคํานวณโดยใช้สูตรของเดอบายเรอร์ (สม. 1)
สำหรับการวิเคราะห์ขนาดผลึกที่สูงรุนแรงและคมชัด
สูงสุดเลนส์ที่2y¼36.31correspondsเพื่อ (1 0 1) การเลี้ยวเบน
ของซิงค์ออกไซด์ ขั้นตอนการ wurtzite หกเหลี่ยมเป็นลูกจ้าง
/ DS¼0: 9L = bcosy ð1Þ
ที่ / DSis ขนาดผลึกเฉลี่ยเงียบ CuKaradiation
ความยาวคลื่น1.5406˚
, ทวิเต็มความกว้างครึ่งสูงสุด
เรเดียนและ y เป็นมุมกระเจิงในระดับ เฉลี่ย
crystallites ของ A1, A2 และ A3 มีการระบุไว้ inTable 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3 . ผลและการอภิปราย
3.1 . ผลึก และการวิเคราะห์ขนาดผลึกโดยใช้ข้อมูลวิเคราะห์
โครงสร้างผลึกและความบริสุทธิ์ ( จำนวน
ศึกษาโดยใช้ผง XRD . ผงการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์
ศึกษาโดยใช้ x'pert ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ withkaradiation ความยาวคลื่น 1.5406
˚ . คานแรงดัน 40 กิโล และ 30 มา
คานปัจจุบันมาใช้ข้อมูลที่ถูกบันทึกไว้ที่ต่อเนื่อง
สแกนอัตรา 0.31/min และเฟสที่ถูกระบุด้วย jcpds
database.fig . 1represents การวิเคราะห์รูปแบบสังเคราะห์ P .
ทั้งหมด difractograms แสดงเก้ายอด ( ดัชนีโดดเด่นด้วย
jcpds 36-1451 ) ซึ่งจะแคบและสูงรุนแรง พบว่า ผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นนี้
มีความเป็นผลึก . ยอด
ความเข้มของแสง ( 1 0 1 ) สำหรับเป็นเตรียม ZnO ตัวอย่าง
ลดลงในการสั่งซื้อ a34a24a1 และด้วยเหตุนี้ผลึกของ
ตัวอย่างยังเป็นอุปสรรคในลำดับเดียวกัน จากยอดความเข้ม มันก็มีการเจริญเติบโตที่ความเร็วของนาโนแท่ง
เกิดขึ้นที่ pH 9 สูงมากเมื่อเทียบกับผู้ที่ก่อตั้งขึ้นที่พีเอช 11
และ 13 ซึ่งได้รับการยืนยันโดยความยาวของแท่งเชื้อเพลิงที่ได้จาก
จากภาพ ค่าเฉลี่ยของขนาดผลึกของเป็นเตรียม
ตัวอย่างการใช้สูตร ดีบาย เชอร์เรอร์ ( อีคิว 1 ) .
สำหรับขนาดผลึกการวิเคราะห์ , เข้มสูงและคมชัดสูงสุดที่ 2y
การเลี้ยวเบน¼ 36.31corresponds ไปยัง ( 1 0 1 ) การเลี้ยวเบน
ของ ZnO หกเหลี่ยม wurtzite เฟส 3
/ DS ¼ 0:9l = bcosy ð 1 Þ
ที่ DSIS ที่มีขนาดเฉลี่ย ลิซที่ cukaradiation
คลื่น1.5406 ˚
, BIS เต็มความกว้างสูงสุดครึ่งใน
เรเดียนและ Y คือมุมของการกระจายในระดับ การ crystallites เฉลี่ย
ของ A1 , A2 และ A3 อยู่ intable 1