X-ray diffraction (XRD) traces were

X-ray diffraction (XRD) traces were obtained from the powdered samples using a Siemens (D500, Siemens, Karlsruhe,
Germany) diffractometer. Ni-filtered CuK α radiation was used and the operating conditions were 40 kV/30 mA, 0.02θ/(2θ) step scan at 1° (2θ)/min, 1° divergence and receiving slits and a 0.15° scatter slit. A scan range of 5° to 50° (2θ) was used.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ร่องรอยการเลี้ยวเบนของแสงเอ็กซเรย์ (XRD) ได้รับมาจากตัวอย่างผงใช้ซีเมนส์ (D500 ซีเมนส์ คาร์ลส รูDiffractometer เยอรมนี) นิกรองรังสีα CuK แล้วปฏิบัติเงื่อนไข 40 kV/30 mA, 0.02θ/(2θ) ขั้นตอนสแกนที่ 1° (2θ) / นาที 1° divergence และรับผ่าและกระจาย 0.15 องศากรีด ใช้แกน 5 °ถึง° 50 (2θ)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) ร่องรอยที่ได้รับจากกลุ่มตัวอย่างที่เป็นผงใช้ซีเมนส์ (D500, Siemens, Karlsruhe,
เยอรมนี) diffractometer Ni-กรองรังสี Cuk αถูกนำมาใช้และสภาพการใช้งาน 40 กิโลโวลต์ / 30 mA, 0.02θ / (2θ) สแกนขั้นตอนที่ 1 ° (2θ) / นาที, 1 °ความแตกต่างและช่องรับและร่อง 0.15 °กระจาย ช่วงสแกน 5 °ถึง 50 ° (2θ) ถูกนำมาใช้