The SEM and AFM investigations show that the plain film surface and its specific characteristics, such as defects, play an important role in determining the barrier levels obtained after AlOx coating
SEM และการตรวจสอบ AFM แสดงให้เห็นว่าพื้นผิวของฟิล์มธรรมดาและลักษณะเฉพาะของตนเช่นข้อบกพร่องที่มีบทบาทสำคัญในการกำหนดระดับอุปสรรคได้รับหลังจากการเคลือบ AlOx