The SEM and AFM investigations show

The SEM and AFM investigations show that the plain film surface and its specific characteristics, such as defects, play an important role in determining the barrier levels obtained after AlOx coating

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

SEM และ AFM สอบสวนแสดงที่ผิวฟิล์มธรรมดาและลักษณะเฉพาะเจาะจง เช่นข้อบกพร่อง มีบทบาทสำคัญในการกำหนดระดับอุปสรรค ที่ได้รับหลังจากเคลือบ AlOx

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

SEM และการตรวจสอบ AFM แสดงให้เห็นว่าพื้นผิวของฟิล์มธรรมดาและลักษณะเฉพาะของตนเช่นข้อบกพร่องที่มีบทบาทสำคัญในการกำหนดระดับอุปสรรคได้รับหลังจากการเคลือบ AlOx

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดย SEM และ AFM สอบสวนพบว่า ฟิล์มธรรมดา พื้นผิวและลักษณะที่เฉพาะเจาะจง เช่น บกพร่อง มีบทบาทสำคัญในการกำหนดระดับที่ได้รับหลังจากเคลือบ alox สิ่งกีดขวาง