Fig. 3 shows AFM images of the seed

Fig. 3 shows AFM images of the seed layer with different
thicknesses along with corresponding roughness graphs. As can be
seen, for the seed layer with 20 nm thickness (Fig. 3A), the surface
has maximum roughness frequency (number of peaks and troughs
per unit length) and, according to Fig. 1E, nanorods grown on this
seed layer are not well-aligned; moreover, with increase of thickness
to 40 nm (Fig. 3B), roughness frequency decreases and
according to Fig. 1F, the alignment of nanorods improves.
Finally, with increase of seed layer thickness to 320 nm (Fig. 3D),
the surface has minimum roughness frequency and nanorods with
much better alignment are obtained (Fig. 1H).
The average roughness of the seed layer measured from the
surface profiler is shown in Fig. 4.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 3 แสดงให้เห็นภาพของชั้น AFM
เมล็ดพันธุ์ที่แตกต่างกันมีความหนาพร้อมกับกราฟความหยาบกร้านที่สอดคล้องกัน ที่สามารถมองเห็นได้สำหรับชั้นเมล็ดพันธุ์ที่มีความหนา 20 นาโนเมตร (รูป. 3A) พื้นผิวที่มีความขรุขระความถี่สูงสุด(จำนวนยอดและต่ำสุดต่อหน่วยความยาว) และตามรูป 1E, แท่งนาโนที่ปลูกในนี้ชั้นไม่ได้เมล็ดพันธุ์ที่ดีสอดคล้อง; นอกจากนี้ยังมีการเพิ่มขึ้นของความหนาถึง 40 นาโนเมตร (รูป. 3B) ลดความหยาบกร้านและความถี่ตามรูป 1F, การจัดตำแหน่งของแท่งนาโนช่วยเพิ่ม. สุดท้ายกับการเพิ่มความหนาของชั้นเมล็ดถึง 320 นาโนเมตร (รูป. 3D), พื้นผิวที่มีความถี่ขรุขระต่ำสุดและแท่งนาโนกับการจัดตำแหน่งที่ดีมากที่จะได้รับ (รูป. 1H). ขรุขระเฉลี่ยของ ชั้นเมล็ดวัดจากProfiler พื้นผิวที่แสดงในรูป 4

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 3 แสดง AFM ภาพของเมล็ดพันธุ์ชั้นมีความหนาแตกต่างกัน
พร้อมกับที่สอดคล้องกันของกราฟ เป็นสามารถ
เห็น สำหรับเมล็ดพันธุ์ชั้น 20 nm ( รูปที่ 3 ) ความหนา ผิวขรุขระมีความถี่สูงสุด
( จำนวนยอดและ troughs
ต่อความยาวหน่วย ) และ ตามรูป nanorods ตลอดจนปลูกบนนี้
, เมล็ดพันธุ์ชั้นไม่ชิดกัน และมีความหนาของ
เพิ่ม40 nm ( รูปที่ 3B ) ความถี่ความหยาบลดลงและ
ตามรูป 1f , การ nanorods ดีขึ้น
สุดท้าย เพิ่มความหนาชั้นเมล็ด 320 nm ( รูปที่ 3 ) ,
พื้นผิวขรุขระและมีความถี่ต่ำสุด nanorods กับ
ดีกว่า จัดได้ ( รูปที่ 1 )
. ความหยาบผิวเฉลี่ยของเมล็ดพันธุ์ชั้นวัดจากพื้นผิว Profiler แสดงในรูป
4