2.2. Product characterizationsThe p

2.2. Product characterizations

The prepared powder products were subjected to various characterizations such as XRD, FT-IR, DRS, FE-SEM, HR-TEM. The crystal structure and average crystallite size of the powder products were determined using an X-ray diffractometer (Philips PW3710; Eindhoven, Netherlands) with Cu Kα radiation and scanning speed of 5 deg/min over a range of 10–90 deg. Functional groups in the product were detected using an FT-IR spectrophotometer (Perkin–Elmer; Spectrum RX I, Waltham, MA, United States of America). FT-IR spectrum was recorded in the range of 400–4000 cm−1 and measured on samples in KBr pellets. The morphological features and microstructure of the powder products were seen using a field emission scanning electron microscopy (FE-SEM; Hitachi S4160, Tokyo, Japan) and high-resolution transmission electron microscope (HRTEM; ZEISS, LIBRA200, Oberkochen, Germany). The optical properties of the NTO nano-pigments were studied using a diffuse reflection spectrophotometer (DRS) (Avantes, Avaspec-2048-TEC) with integrating sphere. The reflection spectrum was scanned in the range of 200–1000 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.2 ลักษณะเฉพาะสินค้าผลิตภัณฑ์ผงที่เตรียมไว้ถูกยัดเยียดให้สมบัติต่างๆเช่น XRD, FT-IR, DRS, FE-SEM, HR-TEM โครงสร้างผลึกและขนาดผลึกเฉลี่ยของผลิตภัณฑ์ผงได้รับการพิจารณาใช้มาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (ฟิลิปส์ PW3710; Eindhoven, เนเธอร์แลนด์) ด้วยการฉายรังสี Cu Kαและการสแกนความเร็ว 5 องศา / นาทีในช่วง 10-90 องศา กลุ่มทำงานในผลิตภัณฑ์ที่ถูกตรวจพบโดยใช้ spectrophotometer FT-IR (เพอร์กินเอลเมอ; สเปกตรัม RX ฉัน, เคมบริดจ์, สหรัฐอเมริกา) สเปกตรัม FT-IR ได้รับการบันทึกในช่วง 400-4000 ซม-1 และการวัดตัวอย่างในเม็ด KBr คุณสมบัติทางสัณฐานวิทยาและจุลภาคของผลิตภัณฑ์ผงได้เห็นการใช้สนามการปล่อยสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ที่ FE-SEM; ฮิตาชิ S4160, กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่น) และความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่ง (HRTEM; ZEISS, LIBRA200, Oberkochen เยอรมนี) คุณสมบัติทางแสงของเม็ดสีนาโน NTO ศึกษาโดยใช้ spectrophotometer สะท้อนกระจาย (DRS) (Avantes, Avaspec-2048-TEC) ที่มีการบูรณาการรูปทรงกลม สเปกตรัมสะท้อนที่ได้รับการสแกนในช่วง 200-1000 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2 . ผลิตภัณฑ์ characterizations

เตรียมผงผลิตภัณฑ์ภายใต้การศึกษาคุณสมบัติต่างๆเช่น XRD , FT-IR , DRS fe-sem hr-tem , , . โครงสร้างผลึกและขนาดเฉลี่ยของผลิตภัณฑ์ผลึกผงซึ่งใช้เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( Philips pw3710 ; Eindhoven , เนเธอร์แลนด์ ) ที่มี Cu K αรังสีและความเร็วในการสแกนของ 5 องศา / นาที ช่วง 10 - 90 องศาการทำงานในกลุ่มผลิตภัณฑ์พบว่ามีการใช้เครื่อง FT-IR ( เพอร์กินเอลเมอร์จำกัด ; RX สเปกตรัม , วอลแทม , MA , สหรัฐอเมริกา ) อินฟราเรดสเปกตรัมที่ถูกบันทึกไว้ในช่วง 400 – 4 , 000 cm − 1 และวัดตัวอย่างในาเม็ด ลักษณะทางสัณฐานวิทยาและโครงสร้างจุลภาคของผลิตภัณฑ์ผงที่ได้เห็นการใช้สนามจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fe-sem ;บริษัท ฮิตาชิ s4160 , โตเกียว , ญี่ปุ่น ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการส่งความละเอียดสูง ( hrtem ; Zeiss libra200 oberkochen , , , เยอรมัน ) คุณสมบัติของเลนส์ นาโน สีที่จะทำการใช้วัสดุสะท้อนกระจาย ( DRS ) ( avantes avaspec-2048-tec , ) กับการรวมวง สะท้อนความถี่สแกนในช่วง 200 - 1000 นาโนเมตร