X-ray diffraction data collections

X-ray diffraction data collections for the compounds were performed on an Enraf-Nonius
Kappa-CCD diffractometer (95 mm CCD camera on κ-goniostat) using graphite monochromated
MoKα radiation (0.71073 Å), at room temperature. Data collection was carried out using the
COLLECT software [32] up to 50° in 2θ. Final unit cells parameters were based on 36671 reflections
for bismuth complex and 28720 for antimony complex, respectively. Integration and scaling of
the reflections, correction for Lorentz and polarization effects were performed with the HKLDENZO-SCALEPACK system of programs [33]. The structure of compound was solved by direct methods with SHELXS-97 [34]. The models were refined by full-matrix least squares on F2 using SHELXL-97 [34]. The program ORTEP-3 [35] was used for graphic representation and the program WINGX [36] to prepare material for publication. All H atoms were located by geometric considerations placed (C-H = 0.93–0.96 Å) and refined as riding with Uiso(H) = 1.5Ueq(C-methyl) or 1.2 Ueq (other). Crystallographic data for compound have been deposited with the Cambridge Crystallographic Data Center as Supplementary Publication No. CCDC 834105 and CCDC 834106. Copies of the data can be obtained, free of charge, on application to CCDC, 12 Union Road,Cambridge CH21EZ, UK (Fax: [phone] or E-Mail: [e-mail]).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

คอลเลกชันข้อมูลการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์สำหรับสารประกอบได้ดำเนินการในการ Enraf-Noniusกัปปะ-CCD diffractometer (95 มม. CCD กล้องบนκ goniostat) โดยใช้กราไฟท์ monochromatedMoKα รังสี (0.71073 Å), ที่อุณหภูมิห้อง รวบรวมข้อมูลดำเนินการโดยใช้การรวบรวมซอฟต์แวร์ [32] ขึ้นไป 50° ใน 2θ พารามิเตอร์หน่วยสุดท้ายเซลล์ตาม 36671 สะท้อนบิสมัทคอมเพล็กซ์และ 28720 สำหรับพลวงคอมเพล็กซ์ ตามลำดับ รวมและการปรับขนาดของสะท้อน การแก้ไขสำหรับผลติโลเรนซ์และโพลาไรซ์ได้ดำเนินการ ด้วยระบบ HKLDENZO SCALEPACK ของโปรแกรม [33] โครงสร้างของสารประกอบถูกแก้ไข โดยวิธีตรงกับ SHELXS-97 [34] รุ่นถูกขัดเกลา โดยเมตริกซ์เต็มรูปแบบกำลังสองน้อยสุดใน F2 ใช้ SHELXL-97 [34] โปรแกรม ORTEP-3 [35] ใช้สำหรับแสดงรูปภาพและโปรแกรม WINGX [36] การเตรียมวัสดุสำหรับงานพิมพ์ อะตอม H ทั้งหมด โดยพิจารณารูปทรงเรขาคณิตที่วางอยู่ (C-H = 0.93 – 0.96 Å) และกลั่นเป็นขี่กับ Uiso(H) = 1.5Ueq(C-methyl) หรือ Ueq 1.2 (อื่น ๆ) ข้อมูล crystallographic สำหรับสารประกอบได้รับฝากไว้กับศูนย์ข้อมูล Crystallographic เคมบริดจ์เป็นการเสริมสิ่งพิมพ์เลข CCDC 834105 และ CCDC 834106 สามารถได้รับสำเนาของข้อมูล ฟรีค่า ประยุกต์ CCDC, CH21EZ 12 สหภาพ Road แคมบริดจ์ สหราชอาณาจักร (โทรสาร: + 44-1223-336-033 หรือ E-Mail: [e-mail])

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เอ็กซ์เรย์คอลเลกชันข้อมูลเลนส์สำหรับสารประกอบที่ได้ดำเนินการใน ENRAF-อุส
diffractometer Kappa-CCD (กล้อง CCD 95 มมκ-goniostat) โดยใช้กราไฟท์ monochromated
MoKαรังสี (0.71073 A) ที่อุณหภูมิห้อง การเก็บรวบรวมข้อมูลได้ดำเนินการโดยใช้
ซอฟแวร์เก็บ [32] ถึง 50 °ใน2θ พารามิเตอร์เซลล์หน่วยสุดท้ายอยู่บนพื้นฐานของการสะท้อน 36,671
ซับซ้อนและบิสมัท 28,720 ซับซ้อนพลวงตามลำดับ บูรณาการและการปรับขนาดของ
ภาพสะท้อนการแก้ไขข้อมูลให้กับลอเรนและโพลาไรซ์ได้ดำเนินการผลกระทบกับระบบ HKLDENZO-SCALEPACK ของโปรแกรม [33] โครงสร้างของสารประกอบถูกแก้ไขโดยวิธีการโดยตรงกับ SHELXS-97 [34] รุ่นที่ถูกกลั่นโดยเต็มรูปแบบเมทริกซ์สแควน้อยใน F2 ใช้ SHELXL-97 [34] โปรแกรม ORTEP-3 [35] ถูกนำมาใช้สำหรับการแสดงภาพพิมพ์และโปรแกรม WingX [36] ในการจัดเตรียมวัสดุสำหรับการตีพิมพ์ ทั้งหมดอะตอม H ตั้งอยู่โดยการพิจารณาเรขาคณิตวาง (CH = 0.93-0.96) และกลั่นเป็นขี่กับ Uiso (H) = 1.5Ueq (C-methyl) หรือ 1.2 Ueq (อื่น ๆ ) crystallographic ข้อมูลสำหรับสารประกอบที่ได้รับการฝากไว้กับศูนย์ข้อมูลเคมบริดจ์เป็น crystallographic เสริมที่ตีพิมพ์ครั้งที่ CCDC 834,105 และ CCDC 834106. สำเนาของข้อมูลที่สามารถได้รับค่าใช้จ่ายเกี่ยวกับการประยุกต์ใช้ในการ CCDC 12 ถนนยูเนี่ยนเคมบริดจ์ CH21EZ, สหราชอาณาจักร ( โทรสาร: + 44-1223-336-033 หรือ e-mail: [e-mail])

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

أريدأنأرىصورتكفقط