Customised test probes design for d

Customised test probes design for die sort
and wafer mapping processes.
Superior performance.
Full range available.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทดสอบโปรแกรม probes ออกแบบเรียงตายและกระบวนการแม็ปแผ่นเวเฟอร์ประสิทธิภาพเหนือกว่าครบวงจรที่พร้อมใช้งาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โพรบทดสอบปรับแต่งการออกแบบสำหรับการจัดเรียงตายและกระบวนการทำแผนที่เวเฟอร์.
ประสิทธิภาพที่เหนือกว่า.
เต็มรูปแบบที่มีอยู่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

จัดทดสอบในการออกแบบกระบวนการ
เรียงตายและแผนที่เวเฟอร์

ช่วงประสิทธิภาพที่เหนือกว่า พร้อมใช้งานเต็มรูปแบบ