Scanning electron microscopy (SEM)A

Scanning electron microscopy (SEM)

A Jeol 6100 scanning electron microscope operating at 30 kV was used to determine the microscopic morphology of the samples. Chorizos were divided in two parts for SEM analysis: the casings, and the chorizos without casings. Samples were pretreated by means of freezing to 193.15 K for 4 h followed by freeze-drying in a lyophilizer (Telstar-Cryodos, Spain) for 1 day.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Microscopy อิเล็กตรอนสแกน (SEM)6100 Jeol ที่สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนปฏิบัติที่ 30 kV ใช้เพื่อตรวจสอบสัณฐานวิทยาด้วยกล้องจุลทรรศน์ของตัวอย่าง Chorizos ถูกแบ่งออกเป็นสองส่วนสำหรับการวิเคราะห์ SEM: casings และ chorizos โดย casings ตัวอย่างที่ pretreated โดยการแช่แข็งการ 193.15 K h 4 ตามขั้น lyophilizer (Telstar Cryodos สเปน) ใน 1 วัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) Jeol 6100 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบการดำเนินงาน ณ วันที่ 30 กิโลโวลต์ถูกใช้ในการตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์สัณฐานวิทยาของกลุ่มตัวอย่าง Chorizos ถูกแบ่งออกเป็นสองส่วนสำหรับการวิเคราะห์ SEM: ปลอกและ chorizos โดยไม่ต้องปลอก ตัวอย่างถูกปรับสภาพโดยวิธีการของการแช่แข็ง 193.15 K สำหรับ 4 ชั่วโมงตามด้วยการแช่แข็งแห้งใน lyophilizer (Telstar-Cryodos, สเปน) 1 วัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )

จอล 6100 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนได้ 30 กิโล คือใช้กำหนดลักษณะของกล้องจุลทรรศน์ตัวอย่าง คอริโอซถูกแบ่งออกเป็นสองส่วนสำหรับการวิเคราะห์ SEM : ปลอกกระสุน และคอริโอซ โดยไม่มีหลักฐานนะ จำนวนที่ได้รับโดยวิธีการของแข็ง 193.15 K 4 H ตามด้วยไซโคลเฮกเซนใน cryodos ไลโอฟิไลเซอร์ ( telstar ,สเปน ) สำหรับ 1 วัน