top view and cross-section view of

top view and cross-section view of the microstructure of the ZnO films are first examined using SEM.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มุมมองด้านบนและระหว่างส่วนของต่อโครงสร้างจุลภาคของ ZnO films จะตรวจสอบโดยใช้ SEM. first

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มุมมองด้านบนและมุมมองข้ามส่วนของจุลภาคของ LMS สายซิงค์ออกไซด์เป็นสายแรกการตรวจสอบโดยใช้ SEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มุมมองด้านบนภาพตัดขวางและมุมมองของโครงสร้างจุลภาคของ ZnO จึงมีจึงตัดสินใจเดินทางเข้าตรวจสอบการใช้ SEM