3.3. Simulation results and discuss

3.3. Simulation results and discussion
Fault simulation is performed at circuit level, i.e. all
logic gates and Op Amps are flattened to transistor
level. A total of 156 single short and open faults of
the self-testable FRWC are simulated. For each
injected fault, the response is recorded and analyzed.
Our results have shown that 6 out of 156 single
faults were not detectable. However, further
investigations revealed that this set of undetectable
faults could be detected if other test technique (for
example, IDDQ measurement) other than voltage-based
test method was used.
4. CONCLUSIONS AND FUTURE WORK
An effective self-testable full range window
comparator has been presented. Due to the built-in
fault tolerant features of the self test circuitry, veryhigh fault coverage of the FRWC is assured. The
major advantages of the proposed self-testable design
are that it is easy to implement and it has small
hardware overhead.
As is reported in [2], the use of FRWC could be
an effective means to test and diagnose embedded
functional cores with minimum hardware overhead
and I/O pins. In future we would like to extend the
use of the self-testable FRWC to the testing of
embedded mixed-signal cores in SOC designs.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.3 ผลการจำลองและการอภิปรายการจำลองความผิดจะดำเนินการในระดับวงจรคือทุกประตูตรรกะและOp Amps แบนเพื่อทรานซิสเตอร์ระดับ รวมเป็น 156 ความผิดพลาดในระยะสั้นและเปิดเดียวของFRWC ตนเองทดสอบมีการจำลอง สำหรับแต่ละความผิดฉีดตอบสนองจะถูกบันทึกและวิเคราะห์. ผลของเราแสดงให้เห็นว่า 6 จาก 156 เดียวความผิดพลาดไม่ได้ตรวจพบ แต่ต่อไปการสืบสวนเปิดเผยว่าชุดนี้ตรวจสอบไม่พบความผิดพลาดสามารถตรวจพบถ้าเทคนิคการทดสอบอื่นๆ(สำหรับตัวอย่างเช่นการวัด IDDQ) ที่นอกเหนือจากแรงดันไฟฟ้าที่ใช้วิธีการทดสอบที่ใช้. 4 ข้อสรุปและการทำงานในอนาคตที่มีประสิทธิภาพที่สามารถทดสอบได้ด้วยตนเองอย่างเต็มรูปแบบหน้าต่างเปรียบเทียบได้รับการเสนอ เนื่องจากในตัวความผิดคุณสมบัติอดทนของวงจรการทดสอบตัวเอง veryhigh คุ้มครองความผิดของ FRWC มั่นใจ ข้อได้เปรียบที่สำคัญของการเสนอการออกแบบตัวเองทดสอบที่ว่ามันเป็นเรื่องง่ายที่จะใช้และมีขนาดเล็กค่าใช้จ่ายฮาร์ดแวร์. ในฐานะที่เป็นรายงานใน [2] การใช้ FRWC อาจจะเป็นวิธีที่มีประสิทธิภาพในการทดสอบและวินิจฉัยฝังแกนการทำงานที่มีขั้นต่ำค่าใช้จ่ายด้านฮาร์ดแวร์และ I / O หมุด ในอนาคตเราต้องการที่จะขยายการใช้งานของตัวเอง FRWC ทดสอบกับการทดสอบของฝังแกนสัญญาณผสมในการออกแบบSOC

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.3 . ผลและการอภิปราย
จำลองความผิดจะดําเนินการในระดับวงจร เช่น
โลจิกเกทและแอมป์ OP จะแบนระดับทรานซิสเตอร์

ทั้งหมด 156 สั้นเดี่ยวและเปิดข้อบกพร่องของตนเองทดสอบได้
frwc เป็นจำลอง สำหรับแต่ละ
ฉีดผิด การตอบสนองจะถูกบันทึกและวิเคราะห์ .
ผลของเราแสดงให้เห็นว่า 6 จาก 156 เดียว
ความผิดไม่ได้ แต่ต่อไป
สอบสวนพบว่าชุดของกล้องดิจิตอล
ข้อบกพร่องนี้สามารถตรวจพบได้ ถ้าเทคนิคการทดสอบอื่น ๆ ( สำหรับ
ตัวอย่าง iddq การวัด ) นอกจากวิธีทดสอบแรงดันไฟฟ้าที่ใช้ตาม
.
4 ข้อสรุปและการทำงานในอนาคตที่มีประสิทธิภาพเต็มรูปแบบในช่วงทดสอบได้ด้วยตนเอง

เปรียบเทียบหน้าต่างได้รับการเสนอ เนื่องจากในตัว
ความผิดใจกว้างคุณลักษณะของการทดสอบวงจรด้วยตนเอง ,ความผิดที่ครอบคลุมมากของ frwc ที่มั่นใจได้
ประโยชน์หลักของตนเองทดสอบได้เสนอการออกแบบ
คือว่ามันเป็นเรื่องง่ายที่จะใช้และมีค่าใช้จ่าย

เป็นอุปกรณ์ขนาดเล็ก มีรายงานใน [ 2 ] , การใช้ frwc อาจ
หมายถึงการมีประสิทธิภาพในการทดสอบและวินิจฉัยฝังตัว
หน้าที่แกนสุดอุปกรณ์ I / O
ค่าโสหุ้ยและหมุด ในอนาคตเราต้องการขยาย
ใช้ของตนเอง ทดสอบได้ frwc เพื่อการทดสอบ
ผสมสัญญาณแกนหลักในการออกแบบ SoC แบบฝังตัว