C.-L. Huang, H.-Y. Chu, M.-T. Chen,

C.-L. Huang, H.-Y. Chu, M.-T. Chen, Algorithm comparison for high
impedance fault detection based on staged fault test, IEEE Trans. Power
Deliv. 3 (4) (1988) 1427–1435.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

C. L. Huang, H. Y ชู ต.ม. เฉิน เปรียบเทียบอัลกอริทึมสำหรับสูงความต้านทานตรวจจับข้อบกพร่องที่อิงฉากทดสอบข้อบกพร่อง IEEE โอนย้ายอำนาจDeliv 3 (4) (1988) 1427-1435

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

C.-L. หวาง H.-Y. บุญชู M.-T. เฉินการเปรียบเทียบขั้นตอนวิธีสูง
ตรวจสอบความผิดความต้านทานจากการทดสอบความผิดฉากอีอีอีทรานส์ เพาเวอร์
deliv 3 (4) (1988) 1427-1435