X-ray diffraction (XRD) data were o

X-ray diffraction (XRD) data were obtained with Rigaku D/max
2500 diffractometer (Cu Ka radiation, l ¼ 0.154056 nm) at 40 kV
and 30 mA, the samples were scanned with Bragg's angles between
10
and 85
at a rate of 4
/min, the phase identification was
determined by comparison with the Joint Committee on Powder
Diffraction Standards (JCPDS), the crystallite diameter of the samples
were estimated from XRD patterns applying the Scherrer
equation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รับข้อมูลการเลี้ยวเบนของแสงเอ็กซเรย์ (XRD) กับ Rigaku D/สูง สุดdiffractometer 2500 (Cu Ka รังสี l ¼ 0.154056 nm) ที่ 40 kVและ 30 mA สแกนตัวอย่างของแบรกมุมระหว่าง10 และ 85 ที่อัตรา 4 /min ระบุขั้นตอนได้พิจารณาเปรียบเทียบกับคณะกรรมการร่วมในผงกระจายมาตรฐาน (JCPDS), เส้นผ่าศูนย์กลาง crystallite ตัวอย่างประมาณการจาก XRD ลายใช้การ Scherrerสมการนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) ข้อมูลที่ได้รับกับ Rigaku D / MAX
2500 diffractometer (รังสีลูกบาศ์กกา, L ¼ 0.154056 นาโนเมตร) ที่ 40 kV
และ 30 mA ตัวอย่างที่ถูกสแกนด้วยมุมแบร็กระหว่าง
10? และ 85? ในอัตรา 4 / นาทีการระบุขั้นตอนที่ถูก
กำหนดโดยการเปรียบเทียบกับร่วมกับคณะกรรมการผง
มาตรฐานการเลี้ยวเบน (JCPDS) เส้นผ่าศูนย์กลางผลึกของกลุ่มตัวอย่าง
ได้รับการประเมินจากรูปแบบการใช้ XRD Scherrer
สม