The spectra were acquired in reflec

The spectra were acquired in reflectivity mode with a Bruker V70
interferometer working under dry air sweep. The measurements
were made in the range of 30 cm-1 to 2500 cm-1 in the middle and
far infrared at near normal incidence (see Fig. 11). The instrumental
resolution was 4 cm-1 and the reference measured with a gold mirror.
We deduce a global trend to a structural change of the silicate
network after staining process up to T>660 °C (the two colored
glasses) because contributions are deviated from 1030 to 1100 and
1120 cm-1 respectively from the reference glass to silver and copper glasses in Fig. 11. Typical absorption depth of the probe beam for a
glass material is of micrometer order, consequently, this method is a
qualitative surface analysis. The reflectance spectra obtained can be
fitted by the use of a reflectivity model with a dielectric function
model ε=ε'+iε' ' based on causal Gaussian absorption profiles
(Kramers-Kroenig gaussian) that are well adapted for the analysis of
amorphous materials and more especially glass [21]. This fitting
procedure of the spectra can be made with “FOCUS” [25], a curve
fitting software especially suitable for the analysis of optical spectra.
However in our particular case where values of ε∞=n2 are almost
equal beyond 1300 cm-1, we can just discuss the absorption
thanks to the reflectance and the extraction of its imaginary part
(Fig. 12).
The region in the range of 800 to 1300 cm-1 is assigned to seven
(νi) bands associated to Qn stretching modes of SiO4 tetrahedra
interconnected between them and the region below 400 cm-1 is
assigned to Na-O and Cu-O bonds [21,26]. Except (ν6) which represents
a dynamic mode at a higher scale, (ν1), (ν5) and (ν7) are related
to intertetrahedral stretching modes of Si-O-Si bridges. (ν2) and (ν3)
modes are associated to stretching vibration of Si-NBO bonds in Q2
and Q3 species. (ν4) is the Q4 stretching vibration mode. A thorough
analysis of the imaginary part of each glass is realized to understand
the structural evolution trends.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แรมสเป็คตราได้รับมาในโหมดแสงสะท้อนกับ Bruker V70ทำงานภายใต้อากาศแห้งกวาด interferometer การประเมินทำในช่วง 30 ซม. 1 ซม. 2500-1 ตรงกลาง และอินฟราเรดที่ใกล้เกิดปกติ (ดู Fig. 11) เพลงบรรเลงความละเอียดได้ 4 ซม.-1 และการอ้างอิงโดยกระจกทองเราเดาเทรนด์โลกการเปลี่ยนแปลงโครงสร้างของซิลิเกเครือข่ายหลังจากย้อมสีกระบวนการถึง T > 660 ° C (สองสีแว่นตา) เนื่องจากจัดสรรได้ deviated จาก 1030 ถึง 1100 และ1120 cm-1 ตามลำดับจากแก้วอ้างอิงเงิน และทองแดงแว่นตาใน Fig. 11 ดูดซึมทั่วไปความลึกของคานโพรบสำหรับการวัสดุแก้วเป็นของสั่งไมโครมิเตอร์ ดัง วิธีนี้เป็นการเชิงคุณภาพการวิเคราะห์ผิว แรมสเป็คตราแบบสะท้อนแสงที่ได้สามารถติดตั้ง โดยการใช้แบบแสงสะท้อนโดยใช้ฟังก์ชันเป็นฉนวนรุ่นε =ε '+ iε' ' ตามโพรไฟล์ดูดซึม Gaussian สาเหตุ(Kramers-Kroenig gaussian) ที่ได้ดัดแปลงสำหรับการวิเคราะห์ดีวัสดุไปและเพิ่มเติมโดยเฉพาะอย่างยิ่งแก้ว [21] เหมาะสมนี้ขั้นตอนของแรมสเป็คตราสามารถทำได้กับ "โฟกัส" [25], เส้นโค้งซอเหมาะสมที่เหมาะกับการวิเคราะห์ของแรมสเป็คตราแสงอย่างไรก็ตามในกรณีของเราซึ่งค่าของε∞ = n2 จะเกือบเกิน 1300 ซม-1 เท่า สามารถเพียงเจรจาดูดซึมที่แบบสะท้อนแสงและการสกัดส่วนจินตภาพ(Fig. 12)ภูมิภาคในช่วง 800 ถึง 1300 ซม-1 ถูกกำหนดให้กับเจ็ดวง (νi) ที่เกี่ยวข้องกับห้องพักที่ยืดวิธีอัลตราไวโอเลตทำ SiO4เข้าใจระหว่างพวกเขาและภูมิภาค 400 ซม.-1 คือกับพันธบัตร Na-O และ Cu O [21.26] ยกเว้น (ν6) ซึ่งแสดงโหมดชั่วคราวที่ความสูงมาตราส่วน, (ν1), (ν5) (ν7) และเกี่ยวข้องintertetrahedral ยืดรูปแบบสะพานศรี-O-ซี (Ν2) และ (ν3)วิธีเกี่ยวข้องเพื่อยืดความสั่นสะเทือนของพันธบัตร NBO ศรีในไตรมาสที่ 2และไตรมาสที่ 3 พันธุ์ (Ν4) เป็นไตรมาสที่ 4 ยืดสั่นสะเทือนโหมด ตัวอย่างวิเคราะห์ส่วนจินตภาพของแต่ละแก้วจะรับรู้เข้าใจแนวโน้มวิวัฒนาการโครงสร้าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สเปกตรัมที่ได้มาอยู่ในโหมดการสะท้อนแสงกับ V70 Bruker
interferometer ทำงานภายใต้กวาดอากาศแห้ง การวัด
ที่ถูกสร้างขึ้นในช่วง 30 ซม-1 เพื่อ 2500 cm-1 ในระดับกลางและ
อินฟราเรดที่อุบัติการณ์ใกล้ปกติ (ดูรูปที่. 11) เครื่องมือ
ที่มีความละเอียดเป็น 4 ซม. 1 และการอ้างอิงวัดที่มีกระจกทอง.
เราได้ข้อสรุปแนวโน้มทั่วโลกที่จะมีการเปลี่ยนแปลงโครงสร้างของซิลิเกต
เครือข่ายหลังจากการย้อมสีกระบวนการถึง T> 660 ° C (สองสี
แก้ว) เพราะผลงานจะเบี่ยงเบน 1030-1100 และ
1120 เซนติเมตร-1 ตามลำดับจากกระจกอ้างอิงถึงเงินและแก้วทองแดงในรูป 11. ความลึกการดูดซึมทั่วไปของคานสอบสวนสำหรับ
วัสดุแก้วของคำสั่งไมโครเมตรดังนั้นวิธีนี้คือ
การวิเคราะห์พื้นผิวคุณภาพ สเปกตรัมสะท้อนที่ได้รับสามารถนำไป
ติดตั้งโดยใช้รูปแบบการสะท้อนแสงที่มีฟังก์ชั่นอิเล็กทริก
แบบεε = '+ iε' 'ขึ้นอยู่กับรูปแบบการดูดซึมเสียนสาเหตุ
(Kramers-Kroenig เกาส์) ที่มีการปรับตัวได้ดีสำหรับการวิเคราะห์
วัสดุอสัณฐานและ มากขึ้นโดยเฉพาะอย่างยิ่งแก้ว [21] นี้เหมาะสม
ขั้นตอนของสเปกตรัมสามารถทำกับ "FOCUS" [25], เส้นโค้ง
ซอฟแวร์ที่เหมาะสมโดยเฉพาะอย่างยิ่งเหมาะสำหรับการวิเคราะห์สเปกตรัมแสง.
แต่ในกรณีของเราโดยเฉพาะอย่างยิ่งที่ค่านิยมของε∞ 2 = เกือบจะ
เท่ากันเกิน 1,300 เซนติเมตร-1 เราก็สามารถพูดคุยการดูดซึม
ขอบคุณที่การสะท้อนและการสกัดของส่วนจินตภาพของ
(รูปที่. 12).
ภูมิภาคในช่วง 800-1,300 เซนติเมตร-1 ได้รับมอบหมายให้เจ็ด
(νi) วงดนตรีที่เกี่ยวข้องกับ Qn ยืดรูปแบบของการ SiO4 tetrahedra
ที่เชื่อมต่อกันระหว่างพวกเขาและพื้นที่ต่ำกว่า 400 เซนติเมตร-1
ได้รับมอบหมายให้นา-O และพันธบัตร Cu-O [21,26] ยกเว้น (ν6) ซึ่งหมายถึง
โหมดแบบไดนามิกในระดับที่สูงขึ้น (ν1) (ν5) และ (ν7) ที่เกี่ยวข้อง
เพื่อ intertetrahedral โหมดการยืดของสะพาน Si-O-Si (ν2) และ (ν3)
โหมดที่เกี่ยวข้องเพื่อยืดการสั่นสะเทือนของพันธบัตร Si-NBO ในไตรมาสที่ 2
และไตรมาสที่ 3 สปีชีส์ (ν4) เป็นไตรมาสที่ 4 ยืดโหมดการสั่นสะเทือน อย่างละเอียด
วิเคราะห์ส่วนจินตภาพของกระจกแต่ละคนจะตระหนักในการทำความเข้าใจ
แนวโน้มวิวัฒนาการโครงสร้าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นี้ได้มาในโหมดสะท้อนกับ BRUKER v70
อินเตอร์เฟอโรมิเตอร์ทำงานกวาดอากาศแห้ง การวัด
ได้ในช่วง 30 ถึง 2 , 500 cm-1 cm-1 ตรงกลาง
อินฟราเรดไกลที่ใกล้เหตุการณ์ปกติ ( ดูรูปที่ 11 ) ความละเอียดที่บรรเลง
4 cm-1 และอ้างอิงได้กับกระจกทอง
เราสรุปแนวโน้มทั่วโลกเพื่อเปลี่ยนแปลงโครงสร้างของซิลิเกต
เครือข่ายหลังจากกระบวนการย้อมสีขึ้น t > 660 ° C (
2 สีแก้ว ) เพราะเขียนจะเบี่ยงเบนจาก 1030 ถึง 1100 และ
1120 cm-1 ตามลำดับจากแก้ว อ้างอิงกับเงินและทองแดงในรูปแว่นตา 11 ความลึกการดูดซึมทั่วไปของคานโพรบสำหรับ
วัสดุแก้วของไมโครมิเตอร์ใบสั่ง ดังนั้นวิธีนี้เป็นผิว
การวิเคราะห์เชิงคุณภาพที่สะท้อนแสงได้สามารถ
ติดตั้งโดยใช้ของการสะท้อนแสงแบบมีฉนวนฟังก์ชัน
รูปแบบε = ε ' ฉันε ' ' ขึ้นอยู่กับสาเหตุเสียนการดูดซึมโปรไฟล์
( kramers kroenig เสียน ) ที่ถูกดัดแปลงสำหรับการวิเคราะห์
วัสดุอสัณฐานและเพิ่มเติมโดยเฉพาะอย่างยิ่งแก้ว [ 21 ] นี้พอดี
วิธีนี้สามารถทำได้กับ " โฟกัส " [ 25 ] ,
โค้งซอฟต์แวร์ที่เหมาะสมโดยเฉพาะอย่างยิ่งเหมาะสำหรับการวิเคราะห์สเปกตรัมแสง .
แต่ในกรณีเฉพาะของเรา ที่ค่าของε∞ = เกือบจะเท่ากับ 2
เกิน 1300 cm-1 เราสามารถหารือเกี่ยวกับการดูดซึม
ขอบคุณสำหรับการสะท้อนและการสกัด
เป็นส่วนจินตภาพ ( รูปที่ 12 ) .
ภูมิภาคในช่วง 800 1300 cm-1 จะมอบหมายให้เจ็ด
( ν ) กลุ่มที่เกี่ยวข้องกับการออกฤทธิ์ของ sio4 โหมด tetrahedra
เชื่อมต่อกันระหว่างพวกเขาและภูมิภาคล่าง 400 cm-1 คือ
มอบหมาย นาโอะและพันธบัตร [ cu-o 21,26 ] ยกเว้น ( ν 6 ) ซึ่งเป็นโหมดแบบไดนามิกที่
ระดับที่สูงขึ้น ( ν 1 ) , ( ν 5 ) และ ( ν 7 ) เกี่ยวข้องกับการยืดของ si-o-si
intertetrahedral โหมดสะพาน ( ν 2 ) และ ( ν
3 )โหมดที่เกี่ยวข้องกับการยืดการสั่นสะเทือนของพันธบัตรในไตรมาส 2 และศรีไม่ใช่หรอกครับ
3 ชนิด ( ν 4 ) เป็น 4 ยืดโหมดการสั่นสะเทือน การวิเคราะห์อย่างละเอียด
ของส่วนจริงของแต่ละแก้วตระหนักเข้าใจ
แนวโน้มวิวัฒนาการของโครงสร้าง