Non-contact temperature measurement

Non-contact temperature measurement of silicon wafers based on the combined use of transmittance and radiance

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวัดอุณหภูมิไม่สัมผัสของซิลิคอนเวเฟอร์อิงใช้รวมของสัมประสิทธิ์การส่งผ่านและกระจ่างใส

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัดอุณหภูมิแบบไม่สัมผัสของซิลิคอนเวเฟอร์บนพื้นฐานของการใช้รวมของการส่งผ่านและกระจ่างใส

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ไม่ใช่การวัดอุณหภูมิติดต่อซิลิคอนเวเฟอร์ขึ้นอยู่กับการใช้รวมของการส่งผ่านและเรเดียน