The Devices under test shall be sub

The Devices under test shall be subjected to continuous storage at one of the Temperature Conditions of Table 1.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบต้องอยู่ภายใต้การเก็บข้อมูลอย่างต่อเนื่องที่อุณหภูมิสภาพของตาราง 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบจะต้องอยู่ภายใต้การจัดเก็บอย่างต่อเนื่องที่หนึ่งในเงื่อนไขของอุณหภูมิในตารางที่ 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบจะต้องอยู่ภายใต้การจัดเก็บอย่างต่อเนื่องที่อุณหภูมิสภาพโต๊ะ 1