ResultsThe analysis(presentedbelow)

Results
The analysis(presentedbelow)concludedthattherewas
polycrystallinesiliconformation.AnXRDscanusingtheBragg
Brentanogeometryillustratesthepolycrystallinenatureofthe
silicon film asshownin Fig. 2.
There existsoneverystrongSi[111]peakwhichcanbeseenat
28.35°, asexpected.AnadditionalSi[311]at56.24° is presentfor

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผลลัพธ์Concludedthattherewas วิเคราะห์ (presentedbelow)polycrystallinesiliconformation AnXRDscanusingtheBraggBrentanogeometryillustratesthepolycrystallinenatureoftheซิลิคอนฟิล์ม asshownin Fig. 2มี peakwhichcanbeseenat existsoneverystrongSi [111]28.35°, asexpected AnadditionalSi [311] at56.24 °เป็น presentfor

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผล ภาพยนตร์ asshownin รูป 2. มี existsoneverystrongSi [111] peakwhichcanbeseenat 28.35 องศา asexpected.AnadditionalSi [311] at56.24 °เป็น presentfor

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลวิเคราะห์ presentedbelow ) concludedthattherewas

polycrystallinesiliconformation . anxrdscanusingthebragg

brentanogeometryillustratesthepolycrystallinenatureofthe ซิลิคอนฟิล์ม asshownin รูปที่ 2 .
มี existsoneverystrongsi [ 111 ] peakwhichcanbeseenat
โดยการ 28.35 , . anadditionalsi [ 311 ] at56.24 presentfor องศาคือ