2.4 Scanning Electron Microscopy (S

2.4 Scanning Electron Microscopy (SEM) testing
Morphology of the LDPE/EVA blends was examined using scanning electron microscopy method (SEM, CamScan, MX 2000, UK). The cryo fractured surface of the LDPE/EVA blends was etched with xylene at 50 oC for 6 h in order to remove EVA phase. The etched surface was gold sputtered and taken within a magnification of 5000x. The LDPE/EVA films incorporated with 4% EOs had been fractured under liquid nitrogen before they were scanned within a magnification of 2000x.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.4 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) การทดสอบ
ทางสัณฐานวิทยาของ LDPE / EVA ผสมถูกตรวจสอบโดยใช้วิธีกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, CamScan, MX 2000 สหราชอาณาจักร) พื้นผิวร้าวฝั่งของ LDPE / EVA ผสมถูกกัดด้วยไซลีนที่ 50 องศาเซลเซียสเป็นเวลา 6 ชั่วโมงเพื่อที่จะลบเฟส EVA พื้นผิวที่ได้รับการฝังทอง sputtered และนำภายในขยายของ 5000X LDPE / EVA ภาพยนตร์รวมกับ 4% EOS ได้รับการหักภายใต้ไนโตรเจนเหลวก่อนที่จะถูกสแกนภายในขยายของ 2000x

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) การทดสอบ
สัณฐานวิทยาของ LDPE / EVA ผสมถูกตรวจสอบโดยใช้วิธีการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด ( SEM camscan MX 2000 , UK ) การ แช่แข็ง ร้าว พื้นผิวของ LDPE / EVA ผสมถูกฝังกับไซ 50 oc 6 H เพื่อที่จะเอาอีวา เฟส แกะสลักพื้นผิวทอง sputtered และถ่ายภายในภาพ 5000x .และ LDPE / EVA ภาพยนตร์รวมกับ 4 % สูงถูกหักในไนโตรเจนเหลวก่อนที่จะทำการสแกนภายในภาพ 2000x .