The surface microstructure and cros

The surface microstructure and cross-section of pullulan films with
and without the addition of SBE were examined under a scanning electron
microscope (SEM) (type FEI, Quanta 200, Japan). Observations and
micrographs were made in Low Vacuum mode (LV mode) by using an
LFD detector, at an accelerating voltage of 30 kV. Before the measurement,
the films were conditioned in a desiccator at 25 ± 1 °C and RH
of 45 ± 5%.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ต่อโครงสร้างจุลภาคที่ผิวและระหว่างส่วนของภาพยนตร์ pullulanและไม่ มีการเพิ่มของ SBE ได้ตรวจสอบภายใต้อิเล็กตรอนสแกนกล้องจุลทรรศน์ (SEM) (ชนิดเฟย Quanta 200 ญี่ปุ่น) สังเกต และmicrographs การทำสุญญากาศต่ำโหมด (โหมด LV) โดยการเครื่องตรวจจับ LFD ที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 30 kV ก่อนการประเมินภาพยนตร์มีการปรับอากาศใน desiccator ที่ 25 ± 1 ° C และ RH45 ± 5%

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคพื้นผิวและข้ามส่วนของภาพยนตร์ pullulan ที่มี
และไม่มีการเพิ่มของ SBE ถูกตรวจสอบภายใต้อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
กล้องจุลทรรศน์ส่องกราด (SEM) (ประเภท FEI, ควอนตั้ม 200, ญี่ปุ่น) การสังเกตและ
กล้องจุลทรรศน์ได้ทำในโหมดสูญญากาศต่ำ (โหมด LV) โดยใช้
เครื่องตรวจจับ LFD ที่แรงดันไฟฟ้าเร่งที่ 30 กิโลโวลต์ ก่อนที่จะวัด
ภาพยนตร์ถูกปรับอากาศในเดซิที่ 25 ± 1 องศาเซลเซียสและความชื้นสัมพัทธ์
45 ± 5%

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวโครงสร้างจุลภาคและภาพตัดขวางของพูลลูแลนฟิล์มกับ
และโดยไม่ต้องเพิ่ม sbe ถูกตรวจสอบภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )
( ประเภท Fei , Quanta 200 , ญี่ปุ่น ) การสังเกตและ
micrographs ถูกทำในโหมดสูญญากาศต่ำ ( โหมด LV ) โดยใช้
lfd เครื่องที่เร่งแรงดัน 30 kV . ก่อนการวัด
ภาพยนตร์ ) ปรับอากาศในเดซิกเคเตอร์ที่ 25 ± 1 ° C และความชื้นสัมพัทธ์
45 ± 5%