For saw mark sample into the same p

For saw mark sample into the same position, and the difference between before and after the vertical position of the module will appear in two different directions, unless the wafer sheet in the machine conversion angle map 180, the detection value will be similar.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับเลื่อยหมายอย่างในตำแหน่งเดียวกัน และความแตกต่างระหว่างก่อน และ หลังตำแหน่งแนวตั้งของโมจะปรากฏในสองทิศ เว้นแต่ว่าแผ่น wafer ในแผนที่มุมแปลงเครื่อง 180 ค่าตรวจหาจะคล้ายกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับตัวอย่างเครื่องหมายเห็นในตำแหน่งเดียวกันและความแตกต่างระหว่างก่อนและหลังตำแหน่งแนวตั้งของโมดูลจะปรากฏในสองทิศทางที่แตกต่างกันเว้นแต่แผ่นเวเฟอร์ในมุมเครื่องแปลงแผนที่ 180 มูลค่าการตรวจสอบจะคล้ายกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สำหรับตัวอย่างเห็นมาร์คในตำแหน่งเดียวกันและความแตกต่างระหว่างก่อนและหลังตำแหน่งแนวตั้งของโมดูลจะปรากฏในสองทิศทางที่แตกต่างกัน นอกจากแผ่นเวเฟอร์แผ่นในเครื่องแปลงมุมราคา 180 , มูลค่าการตรวจสอบจะคล้ายกัน