The resulting materials were examin

The resulting materials were examined with a Siemens
D5000 X-ray diffractometer to study the development
of the crystalline phases at different temperatures. In
NixTi1
3xNb2xO2 and Ni0.1A0.7B0.2O2 (A=Ti, Sn;
B=Sb, Nb) fired samples, a structure profile refinement
was carried out by the RIETVELD method17 with the
data obtained in the [20–100] o2
Bragg angle interval.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัสดุได้ถูกตรวจสอบเป็นเมนส์เอ็กซ์เรย์ D5000 diffractometer เพื่อศึกษาการพัฒนาระยะผลึกที่อุณหภูมิแตกต่างกัน ในNixTi1 3xNb2xO2 และ Ni0.1A0.7B0.2O2 (A =ตี้ SnB = Sb, Nb) ยิงตัวอย่าง แบบโครงสร้างโพรไฟล์รีไฟน์เมนท์ได้ดำเนินการ โดย method17 RIETVELD ด้วยการข้อมูลที่ได้รับในช่วงมุม Bragg o2 [20 – 100]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัสดุที่ส่งผลให้มีการตรวจสอบกับซีเมนส์
D5000 diffractometer X-ray
เพื่อศึกษาการพัฒนาของขั้นตอนผลึกที่อุณหภูมิที่แตกต่างกัน ใน
NixTi1 3xNb2xO2 และ Ni0.1A0.7B0.2O2 (A = Ti, Sn;
B = Sb, Nb)
ยิงตัวอย่างการปรับแต่งรายละเอียดโครงสร้างได้รับการดำเนินการโดยmethod17 Rietveld
กับข้อมูลที่ได้รับใน[20-100] o2? ช่วงมุมแบร็ก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลการตรวจสอบวัสดุด้วย d5000 ซีเมนส์เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์เพื่อศึกษาพัฒนาการ

ของเฟสผลึกที่อุณหภูมิต่าง ๆ ใน
nixti1 และ
3xnb2xo2 ni0.1a0.7b0.2o2 ( = Ti , Sn ;
b = SB NB ) ไล่ออกตัวอย่างโครงสร้างการปรับแต่งโปรไฟล์
ถูกดำเนินการโดย ไรเ เวล method17 กับ
ข้อมูลใน [ 20 – 100 ] O2
แบร็กมุม ช่วง