The surface morphology is then char

The surface morphology is then characterized using AFM to further quantify the surface root-mean-square roughness and to clarify how the APPJ operating conditions influence the surface morphology of the ZnO films.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาผิวอยู่แล้วลักษณะใช้ AFM เพื่อกำหนดปริมาณความหยาบรากค่าเฉลี่ยกำลังสองผิวเพิ่มเติม และชี้แจงวิธีปฏิบัติ APPJ เงื่อนไข influence สัณฐานวิทยาผิวของ ZnO films

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะทางสัณฐานวิทยาผิวแล้วใช้ AFM เพื่อปริมาณพื้นผิวหยาบกร้านรากเฉลี่ยตารางและจะชี้แจงว่าสภาพการใช้งานใน APPJ อิทธิพลสัณฐานพื้นผิวของซิงค์ออกไซด์ไฟ LMS

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลักษณะพื้นผิวเป็นลักษณะใช้ AFM เพื่อเพิ่มเติมปริมาณพื้นผิวรากหมายความว่าสี่เหลี่ยมจัตุรัสความหยาบ และชี้แจงว่า appj เงื่อนไขในfl uence ลักษณะพื้นผิวของ ZnO จึง LMS .