Atomic force microscopy (AFM) is a

Atomic force microscopy (AFM) is a technique that has extensively been used to reveal details on surfaces using different scanning techniques.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Microscopy แรงอะตอม (AFM) เป็นเทคนิคที่มีการใช้อย่างกว้างขวางเพื่อเปิดเผยรายละเอียดบนพื้นผิวที่ใช้เทคนิคการสแกนต่าง ๆ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเทคนิคที่มีการใช้อย่างกว้างขวางในการเปิดเผยรายละเอียดบนพื้นผิวโดยใช้เทคนิคการสแกนที่แตกต่างกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) เป็นเทคนิคที่ถูกใช้อย่างกว้างขวางเพื่อเปิดเผยรายละเอียดบนพื้นผิวที่แตกต่างกันโดยใช้การสแกนเทคนิค